Surface Measurement and Beyond-Nondestructive Testing with Handheld FTIR and SORS Raman Spectroscopy

Surface Measurement and Beyond-Nondestructive Testing with Handheld FTIR and SORS Raman Spectroscopy

Připojte se k nám na zajímavém webináři! Přenosné systémy SORS Raman a FTIR od společnosti Agilent zjednodušují chemickou analýzu in situ.
Surface Measurement and Beyond-Nondestructive Testing with Handheld FTIR and SORS Raman Spectroscopy
Amplifying the Invisible: Advanced Spectroelectrochemistry with EC-SERS

Amplifying the Invisible: Advanced Spectroelectrochemistry with EC-SERS

Objevte, jak Ramanova spektroelektrochemie umožňuje získávat molekulární informace v reálném čase během redoxních reakcí, s důrazem na SERS pro zvýšenou citlivost.
Amplifying the Invisible: Advanced Spectroelectrochemistry with EC-SERS
Cutting through pesticide residues and heavy metals

Cutting through pesticide residues and heavy metals

Tento webinář se zaměřuje na detekci pesticidů a těžkých kovů a na stanovení prvků v mléčných výrobcích. Účastníci se seznámí s využitím technik LC/MS/MS, GC/MS/MS a ICP-MS pro přesnou a spolehlivou analýzu.
Cutting through pesticide residues and heavy metals
Spatiotemporal Imaging with Light-Sheet Microscopy: Having Your Cake and Eating It Too

Spatiotemporal Imaging with Light-Sheet Microscopy: Having Your Cake and Eating It Too

Naučte se, jak integrovat fluorescenční korelační spektroskopii (FCS) do mikroskopů s tenkým světelným paprskem a studovat tak molekulární dynamiku v živých vzorcích.
Spatiotemporal Imaging with Light-Sheet Microscopy: Having Your Cake and Eating It Too
How to Enhance Ash Content Determination with Microwave Ashing

How to Enhance Ash Content Determination with Microwave Ashing

Připojte se k nám na živém webináři věnovaném výzvám tradičního stanovení obsahu popela a výhodám použití mikrovlnných systémů pro tyto účely.
How to Enhance Ash Content Determination with Microwave Ashing
Biopharmaceutical Raw Material Verification with Handheld Vaya Raman Spectrometer

Biopharmaceutical Raw Material Verification with Handheld Vaya Raman Spectrometer

Ruční Ramanův spektrometr Agilent Vaya zvyšuje efektivitu identifikace surovin bez zvýšení nákladů tím, že snižuje potřebu odběru vzorků.
Biopharmaceutical Raw Material Verification with Handheld Vaya Raman Spectrometer
Optimizing Laboratory Procurement with Digital Services: Take Control of Your Laboratory Spend with Agilent CrossLab Connect

Optimizing Laboratory Procurement with Digital Services: Take Control of Your Laboratory Spend with Agilent CrossLab Connect

Podívejte se, jak laboratoře optimalizují investiční a provozní náklady pomocí CrossLab Connect. Naučte se snižovat výdaje, omezovat rizika a maximalizovat stávající aktiva pomocí datových analýz.
Optimizing Laboratory Procurement with Digital Services: Take Control of Your Laboratory Spend with Agilent CrossLab Connect
Beyond the Surface: Micro-XRF and the Hidden Complexity of Porcelain

Beyond the Surface: Micro-XRF and the Hidden Complexity of Porcelain

Objevte, jak mikro-XRF odhaluje tajemství porcelánu – složení glazury, identifikaci pigmentů a původ – pomocí nedestruktivní elementární analýzy.
Beyond the Surface: Micro-XRF and the Hidden Complexity of Porcelain
From Insights to Outcomes: Real-World Optimization of Lab Operations Using CrossLab Connect Digital Services

From Insights to Outcomes: Real-World Optimization of Lab Operations Using CrossLab Connect Digital Services

Zjistěte, jak laboratoře využívají CrossLab Connect ke snižování nákladů, zvyšování produktivity a plnění cílů udržitelnosti díky inteligentním datům a informacím o službách.
From Insights to Outcomes: Real-World Optimization of Lab Operations Using CrossLab Connect Digital Services
Removing Spectral Interferences on ICP-OES: Which Correction Technique is Better, IEC or FACT?

Removing Spectral Interferences on ICP-OES: Which Correction Technique is Better, IEC or FACT?

Na tomto webináři se budeme zabývat tím, jak identifikovat spektrální interference, se kterými se můžete setkat, a porovnáme různé techniky korekce, například korekci pozadí s funkcí "fitted".
Removing Spectral Interferences on ICP-OES: Which Correction Technique is Better, IEC or FACT?