XPS spektrometr K-Alpha představuje zcela novou koncepci povrchových analyzátorů využívajících metodu vysokého rozlišení vysoceenergetického prvkově charakteristického rentgenova záření, tj. vysoce energetických fotonů. K-Alpha je koncipován tak, aby uspokojil akademická a vědecko-výzkumná pracoviště v oblasti studia povrchových vlastností a povrchových struktur, ale má ambice a vlastnosti pronikat i do vysoce kvalifikovaných rutinních centrálních provozních laboratoří, např. v oblasti metalurgie a speciálních materiálů. Pro tyto účely je K-Alpha vhodnou alternativou špičkového vědeckého XPS spektrometru ESCALAB.
Thermo Scientific XPS spektrometr K-Alpha
XPS spektrometr K-Alpha je na špici přístrojové produkce
K-Alpha je kompaktní, vysocevýkonný analyzátor pro studium, elementární a vazebnou analýzu povrchů a povrchových filmů metodou XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy). Spektrometr je standardně vybaven duální kompenzací náboje, monochromatickým zdrojem rentgenova záření, možností hloubkového profilování argonovými ionty, volitelně i argonovými klastry, úhlově závislou XPS . Je k dispozici i plně automatizovaný zdroj UV záření pro UPS a vakuový přenosový modul pro citlivé vzorky. Všechny funkce přístroje, včetně programovatelné manipulace se vzorky, jsou plně digitálně řízené z prostředí řídícího a vyhodnocovacího programového balíku Avantage. Součástí SW Avantage je unikátní XPS Knowledge base. Tyto vlastnosti řadí XPS spektrometr K-Alpha - mezi ostatními výrobci - na špici přístrojové produkce v této oblasti.
Klíčové vlastnosti
- Vysoce výkonný, plně vybavený systém XPS
- Unikátní prohlížení vzorků s možností rychlé identifikace vlastností
- Zobrazování chemického stavu
- Manipulace s velkými vzorky
- Variabilní mikro-fokusový rentgenový zdroj pro přizpůsobení oblasti analýzy vlastnostem
- Iontový zdroj pro profilování hloubky
- Nízkoenergetický zdroj pro analýzu izolátorů
- Vestavěné standardy pro autokalibraci
Thermo Scientific – Kompletní spektrum produktů pro analýzu povrchů
