Bruker MATRIX-F II Procesní FT-NIR spektrometr

Spolehlivý procesní FT-NIR spektrometr

MATRIX-F je spektrometr pro blízkou infračervenou oblast (FT-NIR) určený pro sledování a monitoring průmyslových procesů. MATRIX-F lze vybavit širokou škálou měřících sond a hlav pro kontaktní i bezkontaktní měření. Díky vláknové optice může být přístroj umístěn stovky metrů daleko od měřících bodů. Jedná se o první FT-NIR systém, který je určen k provozu přímo v nepříznivých průmyslových podmínkách. Kompletní podpora standardních průmyslových komunikačních protokolů zjednodušuje implementaci přístroje do praxe. Možnost zabudování PC do přístroje pro plně soběstačnou měřící jednotku.

Parametry:

• Maximální využitelnost – optické sondy nebo hlavy pro bezkontaktní měření
• Dobré výsledky v několika sekundách
• Jednoduchá obsluha a údržba
• Měření více parametrů současně
• Podpora standardních průmyslových komunikačních protokolů
• Integrovaný 6-portový multiplexer s jednoduchou výměnou optické sondy Quick Connect^TM
• Zabudováno v kompaktním a robustním krytu
• Přímý převod kalibrace na všechny stávající spektrometry společnosti Bruker Optics
• RockSolid^TM – robustní interferometr s vysokým výkonem
• Možnost ochrany proti výbuchu v souladu se směrnicí ATEX
• Plně automatizované zkušební postupy pro validaci podle cGMP (operační kvalifikace (OQ), procesní kvalifikace (PQ))
• Validace podle předpisu 21 CFR Part 11 a podle evropského, japonského a amerického lékopisu
• 10letá záruka na interferometr a kalibrační laser

Maximální užitečnost

MATRIX-F II je jediný FT-NIR spektrometr, který dokáže měřit kapaliny i pevné látky v transmisi i reflexi na jediném přístroji. Využívá k tomu různé optické sondy napojené na několika portech přístroje.

Sondy z optických vláken:

Lze použít klasické difuzně-reflexní, transflexní nebo transmisní sondy z optických vláken s různou délkou dráhy, stejně jako procesní průtokové cely nebo specificky přizpůsobené sondy. K dispozici jsou různé materiály sond, jako je nerezová ocel nebo slitina.

Měřící hlavy pro bezkontaktní měření:

NIR osvětlovací a detekční hlavy z optických vláken pro bezkontaktní měření obsahují vlastní intenzivní NIR zdroje, které přímo osvětlují vzorek. Výhodou takového řešení je, že světlo nemusí cestovat optickým vláknem tam a zpět, ale jde pouze jednocestně, což minimalizuje ztráty. Rozptýlené světlo je hlavou sbíráno a vede přes optický kabel dále do spektrometru. K jednomu spektrometru MATRIX-F lze připojit až šest hlav.

Interferometr RockSolid^TM

Permanentně justovaný interferometr Rocksolid^TM je unikátní patentovanou komponentou, která umožňuje více, než 20% zvýšení propustnosti světla v porovnání s interferometrem běžného konstrukčního návrhu. Využívá výhod dvojitého zpětného odrazu od pravoúhlých zrcadel, umístěných na otočném mechanismu s nízkým stupněm opotřebení. Tento design zajišťuje výjimečnou stabilitu dokonce i v méně příznivém prostředí. Díky svému patentovanému konstrukčnímu návrhu eliminuje odklon světelného paprsku optickou cestou.

Bruker: MATRIX-F II Procesní FT-NIR spektrometr.

Příslušenství