Redefinujte analýzu vysoce čistých materiálů přímo v pevném stavu pomocí hmotnostního spektrometru s doutnavým výbojem Thermo Scientific™ Element™ GD Plus™ GD-MS. Tento přístroj je ideálním nástrojem pro analýzu kovů a hloubkové profilování vrstev s vysokou propustností a detekčními limity na úrovni nízkých ppb, a to jak v rutinních, tak výzkumných aplikacích.
Element GD Plus umožňuje stanovení téměř všech prvků periodické tabulky v vodivých i nevodivých materiálech se stejnou úrovní citlivosti a kvality dat.
Analýza kovů s nízkým bodem tání, jako je gallium, je zjednodušena díky speciálnímu workflow pro přípravu a měření vzorků, což z GD-MS činí spolehlivý standard pro jakoukoli kovovou analýzu.
Mimořádná citlivost a nízké detekční limity
- Detekce a kvantifikace téměř všech prvků ve vzorcích v tuhém stavu – často až na úrovni částic na miliardu (ppb).
- Unikátní zdroj iontů s vysokou účinností přenosu maximalizuje signál.
- Poměr signál/šum zaručuje dosažení sub-ppb detekčních limitů.
- Volitelná CNO volba umožňuje detekci C, N a O na sub-ppm úrovni bez ztráty rychlosti analýzy.
- Až 10× nižší výskyt polyatomických interferencí oproti statickým GD zdrojům.
Vysoká produktivita a nízké provozní náklady
Element GD Plus GD-MS je konstruován pro maximální přesnost při vysokém počtu vzorků, čímž výrazně snižuje náklady na analýzu.
Rychlý tok iontů – Fast-Flow Ion Source:
- Výměna vzorku za méně než 1 minutu.
- Krátká doba odčerpání: méně než 10 minut.
- Propustnost až 5 vzorků za hodinu.
- Minimální příprava vzorku – žádné kyselé čištění.
- Není nutné měření kalibračních standardů.
Navrženo pro rutinní provoz
- Lineární dynamický rozsah >10¹² umožňuje současně analyzovat hlavní prvky (%), stopové prvky (ppm) i ultra-stopové látky (ppb).
- Automatická křížová kalibrace mezi různými režimy detekce zaručuje konzistentní výsledky.
- Vakuová komora vzorku eliminuje riziko úniku mezi GD celou a vzorkem.
- Jednoskenová kvantifikace bez kalibrace pomocí standardní RSF metody.
- Nejlepší přesnost během krátké doby měření.
Vysoké hmotnostní rozlišení a spolehlivost
- Měření bez interferencí – jednoznačné analytické výsledky.
- Kombinace různých nastavení rozlišení v rámci jedné analýzy.
- Pevný štěrbinový design zajišťuje stabilitu a reprodukovatelnost.
- Filtrační čočka minimalizuje vliv silných signálů matrice na sousední píky.
Hloubkový profil s nanometrovým rozlišením
- Umožňuje stanovení koncentrací všech prvků od sub-ppm do 100 % bez kalibračních standardů.
- Rozlišení hloubky od několika nanometrů po stovky mikrometrů.
- Nastavitelný průměr anody pro pokročilé hloubkové profilování.
- Možnost řídit rychlost naprašování podle typu analýzy (objemová / hloubková).
Typické oblasti použití
- Letecký průmysl: super slitiny niklu, kompozity, povlaky, difuzní vrstvy
- Mikroelektronika: měď, oxid hlinitý
- Obnovitelné zdroje: křemíkové bloky, solární články
- Medicína, farmacie, potravinářství: nerezové oceli, slitiny
Technické specifikace
- Typ: GD hmotnostní spektrometr
- Dynamický rozsah: >10¹² s automatickou křížovou kalibrací
- Rozlišení: pevné hodnoty ≥300, ≥4 000, ≥10 000
- Stabilita hmotnosti: 25 ppm / 8 hodin
- Napájení: 3fázové, 230/400 V ±10 %, 50/60 Hz, 32 A/fáze
- Citlivost: >1 × 10¹⁰ cps (1.6 × 10⁻⁹ A) pro Cu při středním rozlišení
- Propustnost: až 5 vzorků/hod
