Fast USEPA 8270 Semivolatiles Analysis Using the 6890/5973 inert GC/MSD with Performance Electronics

Technické články | 2004 | Agilent TechnologiesInstrumentace
GC/MSD, GC/SQ
Zaměření
Výrobce
Agilent Technologies

Význam tématu


Rychlá chromatografická separace vyžaduje odpovídající akviziční rychlost a zachování kvality spektra pro spolehlivou identifikaci a kvantifikaci analyzovaných látek. Agilent 5973 Inert MSD s inovativní elektronikou umožňuje snížit dobu analýzy a přitom udržet citlivost a věrnost hmotnostních spekter.

Cíle a přehled studie


Cílem studie je ilustrovat vliv zvýšených akvizičních rychlostí (až 10000 amu/s) v režimech plného skenu a SIM na počet skenů přes chromatografickou špičku, spektrální kvalitu a přesnost kvantifikace.

Použitá metodika a instrumentace


Metodika:
  • Vyhodnocení počtu skenů na špičku pro kvantitativní (10 skenů) a kvalitativní (4–5 skenů) aplikace.
  • Analýza standardu 20 PCB v isooktanu na sloučeninu biphenyl až decachlorobiphenyl.
  • Srovnání režimů vzorkování n = 3, 2, 1, 0 a Fast mode a jejich vliv na počet skenů.
Instrumentace:
  • GC/MS Agilent 5973 Inert MSD
  • GC sloupec HP-5ms (30 m × 0,25 mm id, 0,25 µm film)
  • Vstřikovač pulsed splitless, 1 µL, 275 °C
  • Oven program: 50 °C (1 min), 45 °C/min do 325 °C (1,6 min)
  • MS parametry: zdroj 250 °C, kvadrupól 150 °C, rozsah 150–510 m/z

Hlavní výsledky a diskuse


U biphenylu (špička ~2,7 s) poskytl režim n=3 6 skenů, n=2 10 skenů, n=1 ~17 skenů, n=0 ~30 skenů a Fast mode ~50 skenů. To potvrzuje předpovězené závislosti mezi šířkou špičky, masovým rozsahem a vzorkováním. Fast režim zvyšuje šum a může mírně snižovat intenzitu signálu. SIM analýzy vyžadují deset skenů pro přesnou kvantifikaci; délka dwell time se volí podle počtu iontů ve skupině. AutoSIM a Retention-Time Locking zajišťují automatické nastavení SIM skupin a konzistentní retence.

Přínosy a praktické využití metody


  • Zvýšená propustnost analýz při zachování kvality spekter.
  • Jednodušší vývoj metod díky automatickému výpočtu dwell time a konfiguraci SIM skupin.
  • Retenční zámek minimalizuje údržbu metod při výměně kolony.

Budoucí trendy a možnosti využití


Další vývoj bude směřovat k vyšší automatizaci tvorby metod a integraci pokročilých dekonvolučních algoritmů pro rychlejší screening komplexních vzorků. Strojové učení by mohlo optimalizovat výběr akvizičních parametrů v reálném čase.

Závěr


Nová elektronika Agilent 5973 Inert MSD poskytuje vysoké akviziční rychlosti až 10000 amu/s s minimální ztrátou citlivosti a spektrální kvality. Správné nastavení vzorkování a využití softwaru AutoSIM a RTL vedou ke spolehlivým a snadno udržitelným metodám v režimu plného skenu i SIM.

Reference


  1. D.E. Matthews, J.M. Hayes. Systematic Errors in Gas Chromatography-Mass Spectrometry Isotope Ratio Measurements. Analytical Chemistry, 48(1976), s. 1375–1382.
  2. P.L. Wylie et al. Comprehensive Pesticide Screening by GC/MSD using Deconvolution Reporting Software. Agilent Technologies, publication 5989-1157EN.
  3. H. Prest, D.W. Peterson. New approaches to the development of GC-MS selected ion monitoring acquisition and quantitation methods. Agilent Technologies, publication 5988-4188EN.

Obsah byl automaticky vytvořen z originálního PDF dokumentu pomocí AI a může obsahovat nepřesnosti.

PDF verze ke stažení a čtení
 

Podobná PDF

5973 Inert Performance Electronics: Considerations for GC/MS Methods in Scan and Selective-Ion Monitoring Modes
New Approaches to the Developmentof GC/MS Selected Ion Monitoring Acquisition and Quantitation Methods
Femtogram GC/MSD Detection Limits for Environmental Semivolatiles Using a Triple-Axis Detector
Parts-per-Trillion Level Calibration of Semivolatiles Using LVI-PTV-GC/MSD