High Volume Optical Component Testing

Aplikace | 2020 | Agilent TechnologiesInstrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Zaměření
Materiálová analýza
Výrobce
Agilent Technologies

Význam tématu


Optické tenké vrstvy jsou klíčové pro široké spektrum aplikací v oboru optiky a fotoniky. Přesné stanovení jejich odrazivosti a průchodnosti je nezbytné pro kontrolu kvality a optimalizaci výrobních procesů. Metoda multiúhlové fotometrické spektroskopie (MPS) umožňuje detailní charakterizaci optických vlastností materiálů bez nutnosti opakovaného přemísťování vzorku, čímž minimalizuje systematické chyby a zvyšuje spolehlivost naměřených dat.

Cíle a přehled studie / článku


Cílem studie bylo demonstrovat využití Agilent Cary 7000 UMS ve spojení se Solids Autosamplerem pro vysoce efektivní a bezobslužné měření speculárního odrazu a přímé průchodnosti tenkých skleněných vzorků. Autoři ukazují, jak lze současně získat víceúhlová data z jednoho bodu povrchu a porovnat naměřené hodnoty s teoretickými předpověďmi Fresnelových rovnic.

Použitá metodika a instrumentace


Pro experiment byly použity:
  • Agilent Cary 7000 Universal Measurement Spectrophotometer (UMS) pro MPS měření v rozsahu 250–2500 nm
  • Agilent Solids Autosampler umožňující automatické zavádění až 32 vzorků o průměru 1 palce
Princip metody spočívá v lineárně polarizovaném paprsku, který detektor otáčí kolem osy kolmé k rovině dopadu. UMS kombinuje měření proměnného úhlu průchodnosti a absolutního odrazu bez nutnosti přemístění vzorku.

Hlavní výsledky a diskuse


V jednovzorkovém režimu byla analyzována 1 mm silná destička z křemičitého skla při úhlech dopadu od 0 do 82° pro průchodnost a od 6 do 82° pro odraz. Naměřené body ukázaly výbornou shodu s modelovými křivkami vypočtenými z Fresnelových rovnic.
Rozšíření na vícevzorkový provoz využilo Autosampler pro sledování 11 destiček o rozměrech 38 × 42,5 × 1 mm. Pro každou destičku byla pořízena data odrazu a průchodnosti ve dvou úhlech (±7°, ±45°) a v obou polarizačních stavech. Celkem 16 spekter na vzorek bylo získáno za necelých 40 minut, celkový čas měření všech 11 vzorků byl pod 8 hodin.
Analýza reziduí při 1500 nm ukázala průměrnou odchylku menší než 0,1 % a směrodatnou odchylku řádově 0,02–0,05 %. Průměrné absorbance mezi 500 a 2000 nm byly blízké nule s výjimkou pásu absorpce vody kolem 1400 nm.

Přínosy a praktické využití metody


Automatizace a absence nutnosti otevření komory výrazně zvyšují provozní stabilitu a reproducibilitu měření. Metoda snižuje náklady na analýzu u více vzorků a umožňuje rutinní QA/QC tenkých vrstev v průmyslové výrobě. Navíc získaná multiúhlová data zlepšují konstrukci a reverzní inženýrství optických vrstev.

Budoucí trendy a možnosti využití


Další rozvoj se zaměří na rozšíření rozsahu úhlů měření a integraci pokročilých polarizačních modulací. Kombinace MPS s pokročilou datovou analýzou a strojovým učením může umožnit rychlou identifikaci defektů a optimalizaci výrobních parametrů v reálném čase. Očekává se i aplikace pro neprůhledné a difúzně odrážející materiály.

Závěr


Agilent Cary 7000 UMS ve spojení se Solids Autosamplerem prokázal schopnost zautomatizovat multiúhlová měření odrazu a průchodnosti bez přemísťování vzorku. Shoda s teoretickými předpověďmi a významné zrychlení provozu otevírají nové možnosti pro rutinní kontrolu kvality optických vrstev.

Reference


  • Death D L, Francis R J, Bricker C, Burt T, Colley C The UMA A new tool for Multi-angle Photometric Spectroscopy Proceedings of the Optical Interference Coatings OSA Topical Meeting Canada 2013
  • Tikhonravov A V et al Optical characterization and reverse engineering based on multiangle spectroscopy Appl Opt 2012 51 245-254
  • Amotchkina T V et al Oscillations in the spectral behavior of total losses in dielectric films Opt Exp 2012 20 16129-16144
  • Amotchkina T V et al Quality control of oblique incidence optical coatings based on normal incidence measurement data Opt Exp 2013 21 21508-21522

Obsah byl automaticky vytvořen z originálního PDF dokumentu pomocí AI a může obsahovat nepřesnosti.

PDF verze ke stažení a čtení
 

Podobná PDF

Optical Characterization of Materials Using Spectroscopy
Quality Control of Beam Splitters and Quarter-Wave-Mirrors
Quality Control of Beam Splitters and Quarter-Wave-Mirrors
2020|Agilent Technologies|Technické články
Agilent Cary 7000 universal measurement spectrophotometer
Agilent Cary 7000 universal measurement spectrophotometer
2022|Agilent Technologies|Brožury a specifikace
Coated Wafer Mapping Using UV-Vis Spectral Reflection and Transmission Measurements