Quality Control of Beam Splitters and Quarter-Wave-Mirrors

Technické články | 2020 | Agilent TechnologiesInstrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Zaměření
Materiálová analýza
Výrobce
Agilent Technologies

Význam tématu


Optické vrstvy a vícevrstvé povlaky hrají klíčovou roli v řadě aplikací od optiky ve výzkumu až po průmyslové a spotřebitelské výrobky. Přesné stanovení odrazivosti a propustnosti vrstev je nezbytné pro návrh, kontrolu kvality i zpětné inženýrství složitých vrstevnatých systémů. Metoda vícerozměrné UV-Vis-NIR spektrofotometrie umožňuje získat bohatá data potřebná k optimalizaci depozičních procesů a zaručuje vysokou spolehlivost výsledků.

Obsah byl automaticky vytvořen z originálního PDF dokumentu pomocí AI a může obsahovat nepřesnosti.

PDF verze ke stažení a čtení
 

Podobná PDF

Optical Characterization of Materials Using Spectroscopy
Optical Characterization of Thin Films
Optical Characterization of Thin Films
2022|Agilent Technologies|Aplikace
Molecular Spectroscopy Application eHandbook
Molecular Spectroscopy Application eHandbook
2017|Agilent Technologies|Příručky
High Volume Optical Component Testing
High Volume Optical Component Testing
2020|Agilent Technologies|Aplikace