Agilent 5110 ICP-OES

Brožury a specifikace | 2019 | Agilent TechnologiesInstrumentace
ICP-OES
Zaměření
Výrobce
Agilent Technologies

Význam tématu


ICP-OES je klíčová metoda pro rychlou a citlivou analýzu stopových prvků v různých oblastech včetně životního prostředí, potravinářství, farmacie či průmyslové kontroly kvality. Moderní systémy musí nabízet vysokou produktivitu, minimální spotřebu plynu a snadnou obsluhu, aby se optimalizovaly náklady a zvýšila spolehlivost výsledků.

Cíle a přehled článku


Článek představuje konstrukční řešení a výkon Agilent 5110 ICP-OES s technologií Synchronous Vertical Dual View (SVDV) a přidruženými inovacemi. Hlavním cílem je ukázat, jak kombinace Dichroic Spectral Combiner, Advanced Valve System, Cooled Cone Interface a VistaChip II detektoru zlepšuje rychlost analýz, přesnost, stabilitu a usnadňuje obsluhu.

Použitá metodika


Metoda SVDV umožňuje paralelní axiální a radiální snímání plasmového výboje v jediném měření díky Dichroic Spectral Combiner. Advanced Valve System (AVS) zkracuje dobu stabilizace a proplachu použitím řízené injekce bublin. Cooled Cone Interface omezuje vlastní absorpci a rekombinační interference. Plazma je napájena spolehlivým solid-state RF generátorem a detekce probíhá na vysokorychlostním VistaChip II CCD detektoru s širokým dynamickým rozsahem a nulovou spotřebou pomocného plynu.

Použitá instrumentace


  • Agilent 5110 ICP-OES Synchronous Vertical Dual View
  • Dichroic Spectral Combiner pro synchronní axiální a radiální měření
  • Advanced Valve System (6/7 portový přepínací ventil)
  • Cooled Cone Interface (CCI)
  • Solid-state RF generátor
  • VistaChip II CCD detektor
  • Volitelné příslušenství: SPS 4 autosampler, Multimode Sample Introduction System (MSIS), torche pro organické a vysoce matrixové vzorky

Hlavní výsledky a diskuse


  • Rychlost analýz: SVDV režim dosahuje nejrychlejšího snímání jednotlivých vzorků díky jedinému synchronnímu měření, zkrácení času až o 55 % oproti konkurenci.
  • Snížená spotřeba argonu: až o 50 % nižší spotřeba (27 l·min⁻¹ versus 40 l·min⁻¹ u standardních systémů), což výrazně snižuje provozní náklady.
  • Stabilita signálu: méně než 1,3 % RSD po 4 hodinách v roztoku 25 % NaCl bez použití vnitřního standardu.
  • Dynamický rozsah a interference: CCI společně s algoritmy FACT, IEC a FBC umožňují široký kalibrační rozsah, nízký pozadí a spolehlivou kompenzaci spektrálních interferencí.
  • Snadnost obsluhy: plug-and-play torche a intuitivní software ICP Expert s moduly IntelliQuant a MultiCal zkracují čas na vývoj metod a zajišťují konzistentní výsledky.

Přínosy a praktické využití metody


  • Výrazné zvýšení produktivity laboratoře díky rychlejší analýze a snížené době proplachu.
  • Nižší provozní náklady díky úsporné spotřebě argonu a robustní konstrukci s minimální údržbou.
  • Schopnost analyzovat náročné vzorky s vysokou matrix, organickými rozpouštědly či korozivními složkami bez časté výměny torchí.
  • Zajištění kvality dat a souladu s regulacemi díky integrovaným diagnostickým nástrojům a softwarovým modulům pro elektronické záznamy.

Budoucí trendy a možnosti využití


Další vývoj ICP-OES směřuje k vyšší automatizaci, dalšímu snižování spotřeby plynu a integraci prediktivní údržby prostřednictvím strojového učení. Očekává se rozšíření aplikací pro on-line monitorování procesů, biomatice a komplexní environmentální vzorky. V softwaru se počítá s pokročilou analýzou spektra a predikcí interference.

Závěr


Agilent 5110 SVDV ICP-OES nabízí špičkovou kombinaci rychlosti, přesnosti a jednoduchosti provozu bez kompromisů. Inovativní technologická řešení vedou k úsporám plynu, vyšší stabilitě a spolehlivosti, čímž napomáhají laboratořím dosahovat vynikajících výsledků v krátkém čase.

Reference


  1. Agilent Application Note 5991-4821EN Ultra-fast determination of trace elements in water, US EPA Method 200.7
  2. Agilent Technologies Agilent 5110 ICP-OES Data Sheet 5991-6846EN 2019

Obsah byl automaticky vytvořen z originálního PDF dokumentu pomocí AI a může obsahovat nepřesnosti.

PDF verze ke stažení a čtení
 

Podobná PDF

Agilent 5100 ICP-OES
Agilent 5100 ICP-OES
2015|Agilent Technologies|Brožury a specifikace
Agilent 5110 ICP-OES
Agilent 5110 ICP-OES
2016|Agilent Technologies|Ostatní
Agilent 5110 ICP-OES Specifications
Agilent 5110 ICP-OES Specifications
2016|Agilent Technologies|Brožury a specifikace
Agilent 5100 ICP-OES
Agilent 5100 ICP-OES
2014|Agilent Technologies|Ostatní