Agilent 5100 ICP-OES

Ostatní | 2014 | Agilent TechnologiesInstrumentace
ICP-OES
Zaměření
Výrobce
Agilent Technologies

Význam tématu


Indukčně vázaná plazmová spektrometrie s optickou emisí (ICP-OES) představuje klíčovou metodu pro kvantitativní analýzu stopových a hlavních prvků v různých vzorcích. Vývoj zařízení s vyšší analytickou rychlostí, opakovatelností a nižší spotřebou plynu zvyšuje efektivitu laboratoří a snižuje náklady na provoz.

Cíle a přehled článku


Článek představuje unikátní technologie Agilent 5100 SVDV ICP-OES, které umožňují současné snímání axiálního a radiálního módu plazmy. Cílem je demonstrovat: rychlost měření, stabilitu signálu, úsporu argonu a zjednodušení vývoje metod.

Použitá metodika a instrumentace


Popis instrumentace:
  • Agilent 5100 ICP-OES se synchronním vertikálním duálním režimem (SVDV) a proměnnými konfiguracemi: Synchronous Vertical Dual View, Vertical Dual View, Radial View.
  • Dichroic Spectral Combiner (DSC) pro simultánní zachycení axiálního a radiálního světla v jednom měření.
  • Solid-state RF generátor a vertikální hořák zajišťující robustní plazmu.
  • VistaChip II detektor pro okamžitý start bez předplynování.

Hlavní výsledky a diskuse


Klíčové výsledky:
  • Doba analýzy zjednodušena na jedno měření na vzorek, bez potřeby sekvenčního režimu.
  • Úspora argonu až o 50 % ve srovnání s konvenčními systémy dvou režimů.
  • Long-term stabilita signálu v 25 % roztoku NaCl: < 1,3 % RSD pro široké spektrum prvků po 4 h nepřetržité analýzy.

Diskuse zdůrazňuje, že simultánní sběr dat z obou pohledů zvyšuje přesnost při vysokých a nízkých koncentracích a minimalizuje chyby způsobené kolísáním plazmy.

Přínosy a praktické využití metody


Zavedení SVDV ICP-OES přináší:
  • Vyšší průchodnost vzorků a snížení operačních nákladů.
  • Zkrácení doby vývoje metod díky intuitivnímu softwaru ICP Expert.
  • Zlepšenou spolehlivost výsledků v náročných matricích, např. solných roztocích, chemických a environmentálních vzorcích.

Budoucí trendy a možnosti využití


Očekává se další rozšíření automatizace s dopravníky vzorků pro vysokoprůchodné provozy, integrace s průtokovou analýzou a rozvoj aplikací pro online monitorování procesů. Technologické vylepšení detektorů může přinést ještě rychlejší odezvu a širší rozsah měření.

Závěr


Agilent 5100 SVDV ICP-OES představuje průlom v oblasti plazmové spektrometrie díky simultánnímu měření obou emisních režimů, vysoké stabilitě, nízké spotřebě argonu a rychlému zahájení analýzy. To otevírá nové možnosti pro efektivní a přesné stanovení prvků ve vysoce náročných aplikacích.

Reference


  • Agilent Technologies, Inc. Application Note 5991-4835EN, Published July 1, 2014.

Obsah byl automaticky vytvořen z originálního PDF dokumentu pomocí AI a může obsahovat nepřesnosti.

PDF verze ke stažení a čtení
 

Podobná PDF

Agilent 5110 ICP-OES
Agilent 5110 ICP-OES
2016|Agilent Technologies|Ostatní
Agilent 5100 ICP-OES
Agilent 5100 ICP-OES
2015|Agilent Technologies|Brožury a specifikace
Agilent 5110 ICP-OES
Agilent 5110 ICP-OES
2019|Agilent Technologies|Brožury a specifikace
Synchronous Vertical Dual View (SVDV) for superior speed and performance