CCD and CID solid-state detectors

Technické články | 2016 | Agilent TechnologiesInstrumentace
ICP-OES
Zaměření
Výrobce
Agilent Technologies

Význam tématu


Analytická chemie využívá techniku ICP-OES k detekci prvků pomocí emisního spektra plazmatu. Výkon detektoru výrazně ovlivňuje citlivost, rychlost a flexibilitu měření. Moderní polovodičové detektory CCD a CID nahrazují tradiční fotonásobičové trubice (PMT) a nabízejí podstatně lepší poměr signál/šum, současné měření i širší volbu analyzovaných vlnových délek.

Cíle a přehled studie / článku


Tato technická zpráva popisuje vývoj a porovnání detektorů CCD a CID v ICP-OES se zaměřením na proprietární detektor Agilent VistaChip II použitý v přístroji 5110 ICP-OES. Představuje klíčové inovace v rychlosti čtení, chlazení, ochraně proti blooming a schopnostech adaptivní integrace.

Použitá metodika a instrumentace


Popis detekční techniky:
  • CCD: vysoká citlivost, nízké šumové pozadí, převod fotonů na elektrický signál
  • CID: náhodný přístup k pixelům, nedestruktivní odečet (NDRO), dynamické řízení integračních časů
  • Chlazení: Peltierův článek až do –40 °C pro minimalizaci temného proudu a zlepšení detekčních limitů
  • Anti-blooming: odvádění přebytečného náboje z jednotlivých pixelů do speciálních odtokových kanálků
Instrumentace:
  • Agilent 5110 ICP-OES
  • Detektor VistaChip II s 70 diagonálními lineárními poli (I-MAP), Adaptive Integration Technology (AIT)
  • Echelle optika pokrývající rozsah 167–785 nm
  • Hermetické těsnění inertním plynem bez nutnosti vnějšího čištění

Hlavní výsledky a diskuse


VistaChip II kombinuje výhody CCD (vysoká citlivost, nízké pozadí) s rychlým, adaptivním vyhodnocováním signálu typickým pro CID. Díky AIT lze současně měřit libovolný počet vlnových délek bez prodlevy, přičemž rychlost čtení 1 MHz a duplexní obvody dovolují pokrýt celé spektrum v jediné expozici. Dosahuje osmi řádů dynamického rozsahu a díky chlazení pod –40 °C minimalizuje temný proud.

Přínosy a praktické využití metody


Detektor VistaChip II v Agilent 5110 ICP-OES nabízí:
  • Výrazné zkrácení doby analýzy díky simultánnímu měření
  • Flexibilní volbu vlnových délek bez nutnosti přidávat další detektory
  • Nižší detekční limity a lepší přesnost díky účinnému chlazení
  • Nižší provozní náklady a vyšší robustnost systému

Budoucí trendy a možnosti využití


Perspektivní směry vývoje zahrnují:
  • Další zvýšení citlivosti a rozšíření lineárního rozsahu detekce
  • Integrace s chromatografickými a laserově ablačními technikami pro speciační analýzy
  • Optimalizaci chlazení a materiálového provedení pro ještě nižší šum
  • Využití pokročilých algoritmů pro adaptivní řízení integračních časů v reálném čase

Závěr


Proprietární detektor Agilent VistaChip II spojuje přednosti CCD i CID technologií a poskytuje pokročilé řešení pro ICP-OES. Nabízí vynikající citlivost, rychlost a stabilitu měření při nízkých provozních nákladech, což jej činí ideálním pro široké spektrum aplikací v analytické chemii.

Obsah byl automaticky vytvořen z originálního PDF dokumentu pomocí AI a může obsahovat nepřesnosti.

PDF verze ke stažení a čtení
 

Podobná PDF

CCD and CID solid-state detectors
CCD and CID solid-state detectors
2012|Agilent Technologies|Technické články
Superior ICP-OES optical design for unmatched speed and performance
Superior ICP-OES optical design for unmatched speed and performance
2016|Agilent Technologies|Technické články
Superior ICP-OES optical design for unmatched speed and performance
Superior ICP-OES optical design for unmatched speed and performance
2014|Agilent Technologies|Technické články
True simultaneous ICP-OES for unmatched speed and performance
True simultaneous ICP-OES for unmatched speed and performance
2012|Agilent Technologies|Technické články