True simultaneous ICP-OES for unmatched speed and performance

Technické články | 2012 | Agilent TechnologiesInstrumentace
ICP-OES
Zaměření
Výrobce
Agilent Technologies

Význam tématu


Ionizující plazma spojené s optickou emisní spektrometrií (ICP-OES) představuje klíčovou technologii pro rychlou a citlivou kvantifikaci stopových prvků v různých typech matric. Kombinace echelle optiky a pevnolátkového detektoru umožňuje současný záznam celého spektra bez kompromisů v rychlosti ani přesnosti.

Cíle a přehled studie


Cílem dokumentu je představit koncepci a praktické přínosy série Agilent 720 ICP-OES se zaměřením na inovativní detektor VistaChip, technologie I-MAP a AIT pro dosažení skutečně simultánního měření v rozsahu 167–785 nm.

Použitá metodika a instrumentace


  • Optika: echelle polychromátor s CaF₂ prizmatem pro dvourozměrné disperzní rozložení spektra.
  • Detektor: hermeticky uzavřený VistaChip II CCD s 70 diagonálními lineárními poli (DLA) zarovnanými na volné spektrální rozsahy jednotlivých řádů.
  • I-MAP (Image Mapping): optimalizace využití pixelů k pokrytí celého spektra bez zbytečných dat.
  • AIT (Adaptive Integration Technology): algoritmus automatického nastavení integračního času pro každý emisní řádek dle intenzity signálu.

Hlavní výsledky a diskuse


Díky 1 MHz rychlosti odběru signálu a duplexnímu čtení je celá spektrální oblast snímána pod 1 sekundu. Výborné rozlišení (<7 pm pro As 188,98 nm, <8 pm pro Zn 213,857 nm, až <38 pm pro Ba 614,171 nm) zajišťuje identifikaci úzkých dvojitých čar. Antiblooming na každém pixelu eliminuje interference z intenzivních signálů.

Přínosy a praktické využití metody


  • Zvýšená propustnost laboratoře díky rychlému simultánnímu měření.
  • Vylepšená přesnost a reprodukovatelnost díky internímu standardu a korekci pozadí bez navýšení času analýzy.
  • Možnost vícenásobného potvrzení prvků z různých emisních linií bez časové ztráty.
  • Plná automatizace optimalizace provozních parametrů a čištění vzorku.

Budoucí trendy a možnosti využití


Integrace ICP-OES se separačními technikami (např. kapalinová chromatografie či laserová ablace) pro časově prostorově rozlišené analýzy. Další miniaturizace detektorů, vývoj pokročilých algoritmů pro korekci maticových vlivů a rozšíření online kvality dat pro digitální transformaci laboratoří.

Závěr


Série Agilent 720 ICP-OES s VistaChip II, I-MAP a AIT poskytuje skutečně simultánní a vysoce výkonnou analýzu prvků s minimálními časy stanovení a vynikající stabilitou. Hermetické uzavření detektoru zkracuje startovací časy a snižuje náklady.

Reference


Agilent Technologies, Inc. Publication number 5991-0843EN, 2012

Obsah byl automaticky vytvořen z originálního PDF dokumentu pomocí AI a může obsahovat nepřesnosti.

PDF verze ke stažení a čtení
 

Podobná PDF

Superior ICP-OES optical design for unmatched speed and performance
Superior ICP-OES optical design for unmatched speed and performance
2016|Agilent Technologies|Technické články
Superior ICP-OES optical design for unmatched speed and performance
Superior ICP-OES optical design for unmatched speed and performance
2014|Agilent Technologies|Technické články
Innovative Freeform Optical Design Improves ICP-OES Speed and Analytical Performance
CCD and CID solid-state detectors
CCD and CID solid-state detectors
2012|Agilent Technologies|Technické články