Simplifying Correction of Doubly Charged Ion Interferences with Agilent ICP-MS MassHunter

Technické články | 2019 | Agilent TechnologiesInstrumentace
Software, ICP/MS
Zaměření
Výrobce
Agilent Technologies

Význam tématu


Dvojitě nabité ionty vznikající z baryu a vzácných zemin mohou zkreslovat výsledky měření důležitých stopových prvků jako zinek, arsen a selen pomocí ICP-MS. Přesná korekce těchto interferencí je klíčová pro dosažení spolehlivých a věrohodných dat v oblasti environmentální analýzy, farmaceutického průmyslu či kontrol kvality.

Cíle a přehled studie


Cílem bylo implementovat a otestovat automatizovanou rutinu pro korekci M2+ interferencí v softwaru Agilent ICP-MS MassHunter. Studie demonstrovala nastavení metody, aplikaci přesných korekčních rovnic a vyhodnocení účinku korekce na výsledky Zn, As a Se v přítomnosti různých koncentrací možných interferentů.

Použitá metodika a instrumentace


  • ICP-MS přístroje: Agilent 7800 a 7900 ICP-MS se softwarovým modulem MassHunter v. 4.5 a Advanced Acquisition.
  • Buněčná technologie: helium kolizní režim pro obecné polyatomické interference a úzký režim špiček (+0,5 u) pro měření M2+ iontů.
  • Vzorková příprava: standardy Zn, As, Se, Ba, Nd, Sm, Gd a Dy v rozmezí 0–5000 ppb, interní standardní mix pro kompenzaci driftu.
  • Korekční rovnice: výpočet příspěvku 132Ba2+, 145Nd2+/147Sm2+ a 155Gd2+/163Dy2+ na hmotnostech 66, 75 a 78 pomocí poměru izotopového zastoupení.

Hlavní výsledky a diskuse


  • Zn: bez korekce zachována přesnost do 500 ppb Ba, při 5000 ppb Ba dochází k přibližně 30% nárůstu, po korekci je obnova 96 %.
  • As: při přítomnosti 50 ppb Nd a Sm bez korekce 148 % obnovy, po aplikaci korekce 106 %.
  • Se: při 5 ppb Gd a Dy bez korekce 215 % obnovy, po korekci dosaženo 107 %.
  • Úzký režim špiček umožňuje jasné rozlišení signálů na celých a půlových hmotnostech bez překryvů.

Přínosy a praktické využití metody


Díky plné automatizaci korekce M2+ interferencí ve softwaru MassHunter se výrazně zkracuje doba přípravy metod, potlačují se chyby při ručním výpočtu a zvyšuje se průchodnost vzorků. Metodu lze využít v rutinní analýze environmentálních a průmyslových vzorků, kde se vyskytují vysoké koncentrace baryových či REE prvků.

Budoucí trendy a možnosti využití


  • Rozšíření softwarových rutin na další dvojitě nabité interferenty a izotopické systémy.
  • Integrace reaktivních plynů s pokročilou kontrolou pro komplexnější potlačení rušivých signálů.
  • Implementace v on-line sledování procesů a automatizovaných výrobních linkách pro zajištění kvality v reálném čase.
  • Další vývoj hyperbolických kvadrupol pro zvýšení rozlišení bez výrazného úbytku citlivosti.

Závěr


Automatizovaná korekce dvojitě nabitých iontů v softwaru Agilent ICP-MS MassHunter výrazně zlepšuje přesnost stanovení Zn, As a Se v přítomnosti interferentů z baryu a vzácných zemin. Funkce úzkého režimu špiček a integrované korekční rovnice poskytují rychlou a spolehlivou analýzu bez nutnosti složitého ručního nastavování.

Obsah byl automaticky vytvořen z originálního PDF dokumentu pomocí AI a může obsahovat nepřesnosti.

PDF verze ke stažení a čtení
 

Podobná PDF

Agilent ICP-MS Journal (January 2020, Issue 79)
Agilent ICP-MS Journal (January 2020, Issue 79)
2020|Agilent Technologies|Ostatní
Resolving REE2+ Overlaps on Arsenic and Selenium With Hydrogen Cell Gas
Fast, Accurate Analysis of 28 Elements in Water using ISO Method 17294-2 for ICP-MS
Solving Doubly Charged Ion Interferences using an Agilent 8900 ICP-QQQ