Agilent 8900 Triple Quadrupole ICP-MS brochure

Brožury a specifikace | 2024 | Agilent TechnologiesInstrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Zaměření
Ostatní
Výrobce
Agilent Technologies

Význam tématu


Odstranění hmotnostních interferencí je klíčovou výzvou v analýze stopových prvků metodou ICP-MS. Tradiční kvadrupólové systémy často nedokážou eliminovat polyatomární ani izobarické překryvy, což omezuje přesnost a citlivost měření. Agilent 8900 Triple Quadrupole ICP-MS s MS/MS režimem přináší schopnost selektivního výběru iontů, řízené reakční chemie a dvojitého kvadrupólu, čímž dramaticky zlepšuje spolehlivost výsledků.

Cíle a přehled studie / článku


Článek představuje druhou generaci systému Agilent 8900 ICP-QQQ a popisuje jeho výhody oproti jednovadným ICP-MS přístrojům. Hlavním cílem je ukázat, jak MS/MS režim rozšiřuje analytické možnosti ve výzkumu i rutinní praxi: od stanovení ultratrace Si a S přes geochronologii až po charakterizaci nanočástic.

Použitá metodika a instrumentace


MS/MS princip spočívá v následujících krocích:
  • První kvadrupól (Q1) selektuje pouze ionty požadované hmotnosti a blokuje všechny nežádoucí složky.
  • Reakční buňka ORS4 s řízenou atmosférou (He, O2, NH3) odstraňuje polyatomární a izobarické interference.
  • Druhý kvadrupól (Q2) propouští čisté ionty analytu nebo jeho produktů reakce do detektoru.

Klíčová instrumentace:
  • Agilent 8900 Triple Quadrupole ICP-MS
  • 27 MHz adaptivní RF generátor
  • Chlazený nízkoprůtokový vstřikovací systém s UHMI pro vysokou matricovou toleranci
  • Ultračisté trubice, Peltier chlazení, AVS MS a SPS 4 autosampler
  • Iontová optika (extrakční a Omega lens), konické Ni/Pt rozhraní a čtyřstupňové vakuum
  • MassHunter software s moduly IntelliQuant a Single Nanoparticle

Hlavní výsledky a diskuse


Detekční limity pod 10 ng/L pro Si a S v MS/MS režimu s O2 cell gas potvrzují mimořádnou citlivost. Přímým oddělením izobar (204Hg/204Pb, 176Hf/176Yb) lze dosáhnout přesných izotopových poměrů bez nutnosti vysokého rozlišení. Single-particle ICP-MS analýza pod 50 nm SiO2 nanopartikel demonstruje schopnost rychlého sledování a velikostní distribuce částic. UHMI systém umožňuje rutinní měření vzorků s až 25 % rozpuštěných látek.

Přínosy a praktické využití metody


Agilent 8900 ICP-QQQ nabízí:
  • Vysoce selektivní odstranění interferencí pomocí MS/MS
  • Detekční limity v řádu ng/L pro obtížně měřitelné prvky
  • Přesné geochronologické a jaderné aplikace díky odstranění izobarických překryvů
  • Rychlou a citlivou analýzu nanočástic a jednotlivých buněk
  • Vysokou matricovou toleranci a stabilitu ve složitých vzorcích

Budoucí trendy a možnosti využití


Očekává se další rozvoj MS/MS technik s pokročilou reakcí plyn–ion pro náročné izotopové aplikace, integrace s kapilárními separacemi (LC, CE, IC), rozšíření FFF pro detailní charakterizaci nanočástic, a implementace umělé inteligence pro automatické hodnocení kvality dat. Modularita softwaru a SDK umožní hladkou integraci nových periferií a rozšíření kapacit laboratoří.

Závěr


Agilent 8900 Triple Quadrupole ICP-MS s MS/MS režimem představuje univerzální platformu pro analytickou chemii, která zásadně posouvá hranice citlivosti a selektivity v rutinním i výzkumném provozu. Přístroj spojuje robustnost, vysokou produktivitu a flexibilitu pro široké spektrum aplikací od semikonců, životního prostředí až po nano- a biochemii.

Obsah byl automaticky vytvořen z originálního PDF dokumentu pomocí AI a může obsahovat nepřesnosti.

PDF verze ke stažení a čtení
 

Podobná PDF

Leave Interferences Behind With MS/MS
Leave Interferences Behind With MS/MS
2025|Agilent Technologies|Brožury a specifikace
Agilent ICP-MS Journal  (July 2016 – Issue 66)
Agilent ICP-MS Journal (July 2016 – Issue 66)
2016|Agilent Technologies|Ostatní
Agilent 8900 Triple Quadrupole ICP-MS (Technical Overview)
Agilent 8900 Triple Quadrupole ICP-MS (Technical Overview)
2025|Agilent Technologies|Technické články
Measuring Inorganic Impurities in Semiconductor Manufacturing