Systém Hypulse pro analýzu povrchů
ICPMSČlánek | Produkt

Systém Hypulse pro analýzu povrchů

Objevte systém Hypulse s fs-LA XPS pro přesné hloubkové profilování tenkých vrstev, povlaků a vícevrstvých struktur bez poškození vzorku a s hlubším porozuměním materiálům.
Systém Hypulse pro analýzu povrchů
Revoluční pokrok v hloubkovém profilování pomocí rentgenové fotoelektronové spektroskopie (XPS)
ICPMSČlánek | Produkt

Revoluční pokrok v hloubkovém profilování pomocí rentgenové fotoelektronové spektroskopie (XPS)

Thermo Fisher Scientific představuje nový systém Thermo Scientific™ Hypulse™ pro hloubkové profilování povrchů pomocí XPS, který kombinuje femtosekundový laser a iontový zdroj MAGCIS™.
Revoluční pokrok v hloubkovém profilování pomocí rentgenové fotoelektronové spektroskopie (XPS)
Pozvánka na seminář Introducing the Hypulse Surface Analysis System
ICPMSČlánek | Nejbližší akce

Pozvánka na seminář Introducing the Hypulse Surface Analysis System

Objevte nový spektrometr Thermo Scientific Hypulse – XPS s dělem MAGCIS a femtosekundovým laserem pro hloubkové profilování >30 µm. Webinář s Timem Nunneym.
Pozvánka na seminář Introducing the Hypulse Surface Analysis System