Otevřít dokument Solid Sample Holder

Solid Sample Holder

Brožury a specifikace
| 2021 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Otevřít dokument Variable Angle Specular Reflectance Accessory (VASRA)

Variable Angle Specular Reflectance Accessory (VASRA)

Brožury a specifikace
| 2021 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Otevřít dokument Praying Mantis Accessory

Praying Mantis Accessory

Brožury a specifikace
| 2021 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Otevřít dokument Vision Air Local - Installation

Vision Air Local - Installation

Manuály
| 2021 | Metrohm
Software, NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
Software, NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Metrohm
Zaměření
Otevřít dokument Measuring the Performance of Compact Visual Displays

Measuring the Performance of Compact Visual Displays

Aplikace
| 2021 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument LiDAR Evaluation System: Measurement of Transmittance/Reflectance of Optical Materials

LiDAR Evaluation System: Measurement of Transmittance/Reflectance of Optical Materials

Aplikace
| 2021 | Shimadzu
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument LiDAR Evaluation System: Measurement of Transmittance of Bandpass Filters

LiDAR Evaluation System: Measurement of Transmittance of Bandpass Filters

Aplikace
| 2021 | Shimadzu
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Otevřít dokument Coated Wafer Mapping Using UV-Vis Spectral Reflection and Transmission Measurements

Coated Wafer Mapping Using UV-Vis Spectral Reflection and Transmission Measurements

Aplikace
| 2020 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza, Polovodiče
Otevřít dokument Agilent Cary UV-Vis (NIR) Spectrophotometers Models 4000, 5000, 6000i and 7000 - Long Term Shut Down and Start Up Instructions

Agilent Cary UV-Vis (NIR) Spectrophotometers Models 4000, 5000, 6000i and 7000 - Long Term Shut Down and Start Up Instructions

Manuály
| 2020 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Otevřít dokument Spectrophotometric Spatial Profiling of Coated Optical Wafers

Spectrophotometric Spatial Profiling of Coated Optical Wafers

Aplikace
| 2020 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza