▾
CS
▾
Obor
ALL
GCMS
ICPMS
Rozcestník
Novinky
Články
Události
Akademie
již brzy
Knihovna
Webináře
Produkty
Přístroje a služby
Marketplace
Společnosti
Komerční
Nekomerční
Mediální
Kariéra
Nabídky práce
Všechny obory
GCMS
ICPMS
Účet
Přihlásit se
Registrovat
▾
Novinky
▾
Knihovna
Webináře
Produkty
▾
Společnosti
▾
Kariéra
▾
CS
▾
Databáze
LCMS
GCMS
ICPMS
Zaměření
Klinická analýza
(2)
Materiálová analýza
(25)
Ostatní
(1)
Polovodiče
(3)
Instrumentace
HPLC
(1)
LC/HRMS
(1)
LC/MS
(1)
LC/MS/MS
(1)
Výrobce
Agilent Technologies
(55)
Autor
Agilent Technologies
Metrohm
(9)
Shimadzu
(18)
Thermo Fisher Scientific
(3)
Agilent Technologies
Typ Publikace
Aplikace
(23)
Brožury a specifikace
(17)
Manuály
(4)
Ostatní
(1)
Rok vydání
Aplikace od Agilent Technologies - strana 2
Otevřít dokument Optical Characterization of Materials Using Spectroscopy
Optical Characterization of Materials Using Spectroscopy
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Průmysl a chemie, Materiálová analýza, Polovodiče
Otevřít dokument A Faster, More Accurate Way of Characterizing Cube Beamsplitters
A Faster, More Accurate Way of Characterizing Cube Beamsplitters
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Investigating the Angular Dependence of Absolute Specular Reflection
Investigating the Angular Dependence of Absolute Specular Reflection
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Optical Characterization of Thin Films
Optical Characterization of Thin Films
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Gaining Deeper Insights into Thin Film Response
Gaining Deeper Insights into Thin Film Response
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Agilent Cary 4000/5000/6000i Series UV-VIS-NIR Spectrophotometers
Agilent Cary 4000/5000/6000i Series UV-VIS-NIR Spectrophotometers
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Otevřít dokument The Measurement of High Optical Densities in the Near-Infrared
The Measurement of High Optical Densities in the Near-Infrared
NIR Spektroskopie
Instrumentace
NIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Agilent Cary 7000 universal measurement spectrophotometer
Agilent Cary 7000 universal measurement spectrophotometer
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Otevřít dokument Measuring the Performance of Compact Visual Displays
Measuring the Performance of Compact Visual Displays
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Diffuse Reflectance Accessories (DRAs)
Diffuse Reflectance Accessories (DRAs)
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Před
1
2
3
...
Další