Aplikace z oblasti Materiálová analýza od Agilent Technologies - strana 5
Otevřít dokument Optical Characterization of Thin Films
Optical Characterization of Thin Films
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Gaining Deeper Insights into Thin Film Response
Gaining Deeper Insights into Thin Film Response
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument The Measurement of High Optical Densities in the Near-Infrared
The Measurement of High Optical Densities in the Near-Infrared
NIR Spektroskopie
Instrumentace
NIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Determination of Trivalent and Hexavalent Chromium in Toy Materials
Determination of Trivalent and Hexavalent Chromium in Toy Materials
HPLC, ICP/MS, Speciační analýza
Instrumentace
HPLC, ICP/MS, Speciační analýza
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Measuring the Performance of Compact Visual Displays
Measuring the Performance of Compact Visual Displays
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Coated Wafer Mapping Using UV-Vis Spectral Reflection and Transmission Measurements
Coated Wafer Mapping Using UV-Vis Spectral Reflection and Transmission Measurements
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza, Polovodiče
Otevřít dokument Agilent ASMS 2020 Posters Book
Agilent ASMS 2020 Posters Book
GC/MSD, GC/MS/MS, GC/HRMS, HeadSpace, Příprava vzorků, GC/SQ, GC/Q-TOF, Iontová mobilita, LC/TOF, LC/HRMS, LC/MS, LC/MS/MS, LC/QQQ, LC/SQ
Instrumentace
GC/MSD, GC/MS/MS, GC/HRMS, HeadSpace, Příprava vzorků, GC/SQ, GC/Q-TOF, Iontová mobilita, LC/TOF, LC/HRMS, LC/MS, LC/MS/MS, LC/QQQ, LC/SQ
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Potraviny a zemědělství, Forenzní analýza a toxikologie, Farmaceutická analýza, Proteomika, Materiálová analýza, Klinická analýza
Otevřít dokument Agilent Solutions for Lithium-Ion Battery Industry
Agilent Solutions for Lithium-Ion Battery Industry
GC, GC/MSD, GC/MS/MS, GC/HRMS, GC/SQ, GC/Q-TOF, LC/TOF, LC/HRMS, LC/MS, LC/MS/MS, UV–VIS Spektrofotometrie, ICP/MS, ICP-OES, AAS, FTIR Spektroskopie
Instrumentace
GC, GC/MSD, GC/MS/MS, GC/HRMS, GC/SQ, GC/Q-TOF, LC/TOF, LC/HRMS, LC/MS, LC/MS/MS, UV–VIS Spektrofotometrie, ICP/MS, ICP-OES, AAS, FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Průmysl a chemie, Materiálová analýza
Otevřít dokument Spectrophotometric Spatial Profiling of Coated Optical Wafers
Spectrophotometric Spatial Profiling of Coated Optical Wafers
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Quality Control of Beam Splitters and Quarter-Wave-Mirrors
Quality Control of Beam Splitters and Quarter-Wave-Mirrors
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
