▾
CS
▾
Obor
ALL
GCMS
LCMS
Rozcestník
Novinky
Články
Události
Akademie
již brzy
Knihovna
Webináře
Produkty
Přístroje a služby
Marketplace
Společnosti
Komerční
Nekomerční
Mediální
Kariéra
Nabídky práce
Všechny obory
GCMS
LCMS
Účet
Přihlásit se
Registrovat
▾
Novinky
▾
Knihovna
Webináře
Produkty
▾
Společnosti
▾
Kariéra
▾
CS
▾
Databáze
ICPMS
GCMS
LCMS
Zaměření
Farmaceutická analýza
(3)
Klinická analýza
(4)
Materiálová analýza
(6)
Ostatní
(2)
Instrumentace
ICP/MS
(61)
ICP/MS/MS
(58)
Laserová ablace
(3)
NIR Spektroskopie
(1)
Výrobce
Agilent Technologies
(61)
CEM
(1)
Elemental Scientific
(1)
Thermo Fisher Scientific
(1)
Autor
Agilent Technologies
(61)
Thermo Fisher Scientific
(1)
Typ Publikace
Aplikace
Brožury a specifikace
(16)
Manuály
(1)
Ostatní
(48)
Aplikace
Rok vydání
8900 Aplikace - strana 1
Otevřít dokument Ultrapure Process Chemicals Analysis by ICP-QQQ with Hot Plasma Conditions
Ultrapure Process Chemicals Analysis by ICP-QQQ with Hot Plasma Conditions
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Otevřít dokument Analysis of 50 nm Silica Nanoparticles in Semiconductor Process Chemicals by spICP-MS/MS
Analysis of 50 nm Silica Nanoparticles in Semiconductor Process Chemicals by spICP-MS/MS
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Otevřít dokument Trace Elemental Analysis of Precursor Materials Using ICP-MS/MS
Trace Elemental Analysis of Precursor Materials Using ICP-MS/MS
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Otevřít dokument Determination of Ultratrace Impurities in Semiconductor Photoresist Using ICP-MS/MS
Determination of Ultratrace Impurities in Semiconductor Photoresist Using ICP-MS/MS
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Otevřít dokument Analysis of Nanoparticles in Organic Reagents by Agilent 8900 ICP-QQQ in spICP-MS Mode
Analysis of Nanoparticles in Organic Reagents by Agilent 8900 ICP-QQQ in spICP-MS Mode
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Otevřít dokument Direct Analysis of Zirconium-93 in Nuclear Site Decommissioning Samples by ICP-QQQ
Direct Analysis of Zirconium-93 in Nuclear Site Decommissioning Samples by ICP-QQQ
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Životní prostředí
Otevřít dokument Sulfur isotope fractionation analysis in mineral waters using an Agilent 8900 ICP-QQQ
Sulfur isotope fractionation analysis in mineral waters using an Agilent 8900 ICP-QQQ
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Životní prostředí
Otevřít dokument Analysis of Platinum Group Elements (PGEs), Silver, and Gold in Roadside Dust using Triple Quadrupole ICP-MS
Analysis of Platinum Group Elements (PGEs), Silver, and Gold in Roadside Dust using Triple Quadrupole ICP-MS
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Životní prostředí
Otevřít dokument Analysis of Ultratrace Impurities in High Silicon Matrix Samples by ICP-QQQ
Analysis of Ultratrace Impurities in High Silicon Matrix Samples by ICP-QQQ
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Otevřít dokument Ultratrace Impurity Analysis of Ultrapure Water with Low Boron Background by ICP-MS/MS
Ultratrace Impurity Analysis of Ultrapure Water with Low Boron Background by ICP-MS/MS
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Před
1
2
...
Další