NIR Aplikace od Agilent Technologies - strana 3

Otevřít dokument The measurement of moisture content in mineral ore samples

The measurement of moisture content in mineral ore samples

Aplikace
| 2011 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie
Instrumentace
NIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Životní prostředí
Otevřít dokument Agilent molecular spectroscopy products

Agilent molecular spectroscopy products

Brožury a specifikace
| 2019 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Otevřít dokument Molecular Spectroscopy Application eHandbook

Molecular Spectroscopy Application eHandbook

Příručky
| 2017 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie, FTIR Spektroskopie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie, FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Průmysl a chemie, Materiálová analýza
Otevřít dokument Fast and Easy Measurement of Scattering Samples with the Agilent Cary 60 UV-Vis Spectrophotometer

Fast and Easy Measurement of Scattering Samples with the Agilent Cary 60 UV-Vis Spectrophotometer

Brožury a specifikace
| 2025 | Agilent Technologies
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Životní prostředí
Otevřít dokument Spectrophotometric Spatial Profiling of Coated Optical Wafers

Spectrophotometric Spatial Profiling of Coated Optical Wafers

Aplikace
| 2020 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Improving Spectral Quality Using Beam Collimation Control

Improving Spectral Quality Using Beam Collimation Control

Technické články
| 2024 | Agilent Technologies
UV–VIS Spektrofotometrie, NIR Spektroskopie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie, NIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Characterizing Sub-Nanometer Narrow Bandpass Filters Using an Agilent Cary UV-Vis-NIR

Characterizing Sub-Nanometer Narrow Bandpass Filters Using an Agilent Cary UV-Vis-NIR

Aplikace
| 2023 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Diffuse Reflectance Accessories (DRAs)

Diffuse Reflectance Accessories (DRAs)

Brožury a specifikace
| 2021 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Otevřít dokument Optical Characterization of Thin Films

Optical Characterization of Thin Films

Aplikace
| 2022 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Determining the effects of angle on the infra-red reflectance properties of thin films in architectural glass using the Agilent Cary 630 FTIR

Determining the effects of angle on the infra-red reflectance properties of thin films in architectural glass using the Agilent Cary 630 FTIR

Aplikace
| 2013 | Agilent Technologies
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza