▾
CS
▾
Obor
ALL
GCMS
LCMS
Rozcestník
Novinky
Články
Události
Akademie
již brzy
Knihovna
Webináře
Produkty
Přístroje a služby
Marketplace
Společnosti
Komerční
Nekomerční
Mediální
Kariéra
Nabídky práce
Všechny obory
GCMS
LCMS
Účet
Přihlásit se
Registrovat
▾
Novinky
▾
Knihovna
Webináře
Produkty
▾
Společnosti
▾
Kariéra
▾
CS
▾
Databáze
ICPMS
GCMS
LCMS
Zaměření
Klinická analýza
(1)
Materiálová analýza
(1)
Instrumentace
ICP/MS
(1)
Mikroskopie
X-ray
(1)
Mikroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
(1)
Shimadzu
(1)
Autor
Agilent Technologies
(10)
Anton Paar
(1)
Bruker Optics
(9)
LECO
(9)
Typ Publikace
Postery
(2)
Rok vydání
Aplikace se zaměřením na Mikroskopie - strana 1
Otevřít dokument Quantifying Contamination in Mass Spectrometers Using SEM-EDX
Quantifying Contamination in Mass Spectrometers Using SEM-EDX
Mikroskopie, X-ray
Instrumentace
Mikroskopie, X-ray
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Spatial Mapping of Lipids and Elements by Mass Microscopy and Integration with LA-ICP-MS in the Diabetic Mouse Pancreata
Spatial Mapping of Lipids and Elements by Mass Microscopy and Integration with LA-ICP-MS in the Diabetic Mouse Pancreata
LC/TOF, LC/HRMS, LC/MS, LC/MS/MS, ICP/MS, Mikroskopie
Instrumentace
LC/TOF, LC/HRMS, LC/MS, LC/MS/MS, ICP/MS, Mikroskopie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Klinická analýza
Před
1
Další