Aplikace se zaměřením na NIR Spektroskopie od Agilent Technologies - strana 2

Otevřít dokument High Temperature Dehydration Studies Using UV-Vis-NIR Diffuse Reflectance Spectroscopy

High Temperature Dehydration Studies Using UV-Vis-NIR Diffuse Reflectance Spectroscopy

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Agilent Cary 7000 universal measurement spectrophotometer

Agilent Cary 7000 universal measurement spectrophotometer

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Otevřít dokument Evaluation of Photometric Accuracy in the Near Infrared Region Using Metal-on-Quartz Filters

Evaluation of Photometric Accuracy in the Near Infrared Region Using Metal-on-Quartz Filters

NIR Spektroskopie
Instrumentace
NIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Otevřít dokument Effects of Filter Composition, Spectral Bandwidth, and Pathlength on Stray Light Levels in the Near-Infrared Region

Effects of Filter Composition, Spectral Bandwidth, and Pathlength on Stray Light Levels in the Near-Infrared Region

NIR Spektroskopie
Instrumentace
NIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Otevřít dokument Agilent Cary 4000/5000/6000i Series UV-VIS-NIR Spectrophotometers

Agilent Cary 4000/5000/6000i Series UV-VIS-NIR Spectrophotometers

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Otevřít dokument A Faster, More Accurate Way of Characterizing Cube Beamsplitters

A Faster, More Accurate Way of Characterizing Cube Beamsplitters

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Investigating the Angular Dependence of Absolute Specular Reflection

Investigating the Angular Dependence of Absolute Specular Reflection

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Optical Characterization of Thin Films

Optical Characterization of Thin Films

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Gaining Deeper Insights into Thin Film Response

Gaining Deeper Insights into Thin Film Response

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument The Measurement of High Optical Densities in the Near-Infrared

The Measurement of High Optical Densities in the Near-Infrared

NIR Spektroskopie
Instrumentace
NIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza