▾
CS
▾
Obor
ALL
GCMS
LCMS
Rozcestník
Novinky
Články
Události
Akademie
již brzy
Knihovna
Webináře
Produkty
Přístroje a služby
Marketplace
Společnosti
Komerční
Nekomerční
Mediální
Kariéra
Nabídky práce
Všechny obory
GCMS
LCMS
Účet
Přihlásit se
Registrovat
▾
Novinky
▾
Knihovna
Webináře
Produkty
▾
Společnosti
▾
Kariéra
▾
CS
▾
Databáze
ICPMS
GCMS
LCMS
Zaměření
Farmaceutická analýza
(10)
Forenzní analýza a toxikologie
(7)
Klinická analýza
(8)
Materiálová analýza
Materiálová analýza
Instrumentace
AAS
(1)
FTIR Spektroskopie
(30)
Fluorescenční spektroskopie
(1)
ICP-OES
(3)
Výrobce
Agilent Technologies
(38)
Anton Paar
(2)
Bruker
(5)
Metrohm
(21)
Autor
Agilent Technologies
(38)
Anton Paar
(2)
Bruker Optics
(5)
Metrohm
(21)
Typ Publikace
Aplikace
(68)
Brožury a specifikace
(13)
Manuály
(1)
Ostatní
(9)
Rok vydání
NIR Aplikace z oblasti Materiálová analýza - strana 6
Otevřít dokument The determination of thin film thickness using reflectance spectroscopy
The determination of thin film thickness using reflectance spectroscopy
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Thermo Scientific Nicolet iS5 FT-IR Spectrometer: Fast, reliable answers for QA testing and material ID
Thermo Scientific Nicolet iS5 FT-IR Spectrometer: Fast, reliable answers for QA testing and material ID
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Thermo Fisher Scientific
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Measuring the reflective properties of architectural glass using the Agilent Cary 630 FTIR with 10 degree Specular Refl ectance Accessory
Measuring the reflective properties of architectural glass using the Agilent Cary 630 FTIR with 10 degree Specular Refl ectance Accessory
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Evaluation of the Cary Absolute Specular Reflectance accessory for the measurement of optical constants of thin films
Evaluation of the Cary Absolute Specular Reflectance accessory for the measurement of optical constants of thin films
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Investigating the Angular Dependence of Absolute Specular Reflection
Investigating the Angular Dependence of Absolute Specular Reflection
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Coated Wafer Mapping Using UV-Vis Spectral Reflection and Transmission Measurements
Coated Wafer Mapping Using UV-Vis Spectral Reflection and Transmission Measurements
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza, Polovodiče
Otevřít dokument Thermo Scientific Nicolet iS50 FT-IR Spectrometer - smarter FT-IR definitive answers
Thermo Scientific Nicolet iS50 FT-IR Spectrometer - smarter FT-IR definitive answers
FTIR Spektroskopie, RAMAN Spektrometrie, NIR Spektroskopie, Termální analýza
Instrumentace
FTIR Spektroskopie, RAMAN Spektrometrie, NIR Spektroskopie, Termální analýza
Výrobce
Thermo Fisher Scientific
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Rapid Raw Material Identification for Formulation Compounds Using Handheld Raman Technology
Rapid Raw Material Identification for Formulation Compounds Using Handheld Raman Technology
RAMAN Spektrometrie
Instrumentace
RAMAN Spektrometrie
Výrobce
Metrohm
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Investigation of Dichroism by Spectrophotometric Methods
Investigation of Dichroism by Spectrophotometric Methods
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Quality Control of Beam Splitters and Quarter-Wave-Mirrors
Quality Control of Beam Splitters and Quarter-Wave-Mirrors
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Před
1
...
5
6
7
...
Další