Aplikace z oblasti Materiálová analýza - strana 3
Otevřít dokument Cosmetic Raw Material Identification Testing Through Transparent and Opaque Containers
Cosmetic Raw Material Identification Testing Through Transparent and Opaque Containers
RAMAN Spektrometrie
Instrumentace
RAMAN Spektrometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Determination of Band Gap in Metal Oxides Using UV-Vis Spectroscopy
Determination of Band Gap in Metal Oxides Using UV-Vis Spectroscopy
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument High Temperature Dehydration Studies Using UV-Vis-NIR Diffuse Reflectance Spectroscopy
High Temperature Dehydration Studies Using UV-Vis-NIR Diffuse Reflectance Spectroscopy
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Material Identification of Plastics Throughout Their Life Cycle by FTIR Spectroscopy
Material Identification of Plastics Throughout Their Life Cycle by FTIR Spectroscopy
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Non-Destructive Analysis of Substrates and Contaminants by FTIR with Specular Reflectance Interface
Non-Destructive Analysis of Substrates and Contaminants by FTIR with Specular Reflectance Interface
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Evaluation of the Cary Absolute Specular Reflectance Accessory for the Measurement of Optical Constants of Thin Films
Evaluation of the Cary Absolute Specular Reflectance Accessory for the Measurement of Optical Constants of Thin Films
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Characterizing Sub-Nanometer Narrow Bandpass Filters Using an Agilent Cary UV-Vis-NIR
Characterizing Sub-Nanometer Narrow Bandpass Filters Using an Agilent Cary UV-Vis-NIR
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Measuring the Optical Properties of Photovoltaic Cells
Measuring the Optical Properties of Photovoltaic Cells
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Determination of Elemental Impurities in Silicon-Carbon Anode Materials for Lithium-Ion Batteries by ICP-OES
Determination of Elemental Impurities in Silicon-Carbon Anode Materials for Lithium-Ion Batteries by ICP-OES
ICP-OES
Instrumentace
ICP-OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Průmysl a chemie, Materiálová analýza
Otevřít dokument Determination of Metals in Recycled Li-ion Battery Samples by ICP-OES
Determination of Metals in Recycled Li-ion Battery Samples by ICP-OES
ICP-OES
Instrumentace
ICP-OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Průmysl a chemie, Materiálová analýza
