Aplikace z oblasti Materiálová analýza od Agilent Technologies - strana 7
Otevřít dokument Coated Wafer Mapping Using UV-Vis Spectral Reflection and Transmission Measurements
Coated Wafer Mapping Using UV-Vis Spectral Reflection and Transmission Measurements
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza, Polovodiče
Otevřít dokument Agilent ASMS 2020 Posters Book
Agilent ASMS 2020 Posters Book
GC/MSD, GC/MS/MS, GC/HRMS, HeadSpace, Příprava vzorků, GC/SQ, GC/Q-TOF, Iontová mobilita, LC/TOF, LC/HRMS, LC/MS, LC/MS/MS, LC/QQQ, LC/SQ
Instrumentace
GC/MSD, GC/MS/MS, GC/HRMS, HeadSpace, Příprava vzorků, GC/SQ, GC/Q-TOF, Iontová mobilita, LC/TOF, LC/HRMS, LC/MS, LC/MS/MS, LC/QQQ, LC/SQ
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Potraviny a zemědělství, Forenzní analýza a toxikologie, Farmaceutická analýza, Proteomika, Materiálová analýza, Klinická analýza
Otevřít dokument Agilent Solutions for Lithium-Ion Battery Industry
Agilent Solutions for Lithium-Ion Battery Industry
GC, GC/MSD, GC/MS/MS, GC/HRMS, GC/SQ, GC/Q-TOF, LC/TOF, LC/HRMS, LC/MS, LC/MS/MS, UV–VIS Spektrofotometrie, ICP/MS, ICP-OES, AAS, FTIR Spektroskopie
Instrumentace
GC, GC/MSD, GC/MS/MS, GC/HRMS, GC/SQ, GC/Q-TOF, LC/TOF, LC/HRMS, LC/MS, LC/MS/MS, UV–VIS Spektrofotometrie, ICP/MS, ICP-OES, AAS, FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Průmysl a chemie, Materiálová analýza
Otevřít dokument Analysis of Nonmedical Masks
Analysis of Nonmedical Masks
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Identifying Raw Materials Inside Containers Using a Handheld Raman Spectrometer
Identifying Raw Materials Inside Containers Using a Handheld Raman Spectrometer
RAMAN Spektrometrie
Instrumentace
RAMAN Spektrometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Farmaceutická analýza, Materiálová analýza
Otevřít dokument Spectrophotometric Spatial Profiling of Coated Optical Wafers
Spectrophotometric Spatial Profiling of Coated Optical Wafers
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Quality Control of Beam Splitters and Quarter-Wave-Mirrors
Quality Control of Beam Splitters and Quarter-Wave-Mirrors
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument High Volume Optical Component Testing
High Volume Optical Component Testing
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Compact, portable, and handheld FTIR solutions for solid and liquid analysis
Compact, portable, and handheld FTIR solutions for solid and liquid analysis
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Životní prostředí, Materiálová analýza
Otevřít dokument Investigation of Dichroism by Spectrophotometric Methods
Investigation of Dichroism by Spectrophotometric Methods
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
