Aplikace z oblasti Materiálová analýza od Agilent Technologies - strana 5
Otevřít dokument WCPS: Investigation of Microplastic Size and Number Changes During Simulated UV-Degradation Using Single Particle ICP-MS/MS
WCPS: Investigation of Microplastic Size and Number Changes During Simulated UV-Degradation Using Single Particle ICP-MS/MS
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Životní prostředí, Materiálová analýza
Otevřít dokument Optical Characterization of Materials Using Spectroscopy
Optical Characterization of Materials Using Spectroscopy
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Průmysl a chemie, Materiálová analýza, Polovodiče
Otevřít dokument Rapid, Large-Area, Analysis of Microplastics from Plastic Bottles Using Laser Direct Infrared Imaging
Rapid, Large-Area, Analysis of Microplastics from Plastic Bottles Using Laser Direct Infrared Imaging
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Životní prostředí, Materiálová analýza
Otevřít dokument Analysis of Steel and Its Alloys by ICP-OES Following the GB/T 20125- 2006 Standard
Analysis of Steel and Its Alloys by ICP-OES Following the GB/T 20125- 2006 Standard
ICP-OES
Instrumentace
ICP-OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Fast, Accurate, Robust Analysis of Multiple Elements in Steel by ICP-OES
Fast, Accurate, Robust Analysis of Multiple Elements in Steel by ICP-OES
ICP-OES
Instrumentace
ICP-OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument A Faster, More Accurate Way of Characterizing Cube Beamsplitters
A Faster, More Accurate Way of Characterizing Cube Beamsplitters
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Elemental Analysis of Pure Metals and Alloys by Femtosecond Laser Ablation (LA-)ICP-MS
Elemental Analysis of Pure Metals and Alloys by Femtosecond Laser Ablation (LA-)ICP-MS
ICP/MS, ICP/MS/MS, Laserová ablace
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS, Laserová ablace
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument A Faster, More Accurate Way of Characterizing Cube Beamsplitters
A Faster, More Accurate Way of Characterizing Cube Beamsplitters
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Automated, Unattended, Multi-Angle Transmission and Absolute Reflection Measurements
Automated, Unattended, Multi-Angle Transmission and Absolute Reflection Measurements
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Investigating the Angular Dependence of Absolute Specular Reflection
Investigating the Angular Dependence of Absolute Specular Reflection
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
