Aplikace z oblasti Materiálová analýza od Agilent Technologies - strana 2
Otevřít dokument Low-Level UV-Vis Haze Detection for Improved Reliability of Li-Ion Battery Electrolytes
Low-Level UV-Vis Haze Detection for Improved Reliability of Li-Ion Battery Electrolytes
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument High Precision Analysis of Major Components in Precious Metals by ICP-OES
High Precision Analysis of Major Components in Precious Metals by ICP-OES
ICP-OES
Instrumentace
ICP-OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Optimizing Microplastic Characterization by LDIR: Automated versus Manual Workflows
Optimizing Microplastic Characterization by LDIR: Automated versus Manual Workflows
FTIR Spektroskopie, Analýza velikosti částic
Instrumentace
FTIR Spektroskopie, Analýza velikosti částic
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Thin Multilayer Analysis Using the Agilent 8700 LDIR Chemical Imaging System
Thin Multilayer Analysis Using the Agilent 8700 LDIR Chemical Imaging System
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument ICP-OES Analysis of Copper Recovered from Li-Ion Batteries for Foil Manufacturing
ICP-OES Analysis of Copper Recovered from Li-Ion Batteries for Foil Manufacturing
ICP-OES
Instrumentace
ICP-OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Measurement of Bidirectional Transmittance Distribution Function
Measurement of Bidirectional Transmittance Distribution Function
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Determination of Band Gap in Metal Oxides Using UV-Vis Spectroscopy
Determination of Band Gap in Metal Oxides Using UV-Vis Spectroscopy
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Transmission Measurements of Solid Samples at Variable Angles of Incidence by UV-Vis
Transmission Measurements of Solid Samples at Variable Angles of Incidence by UV-Vis
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Improving Battery Production Yield, Performance, and Stability Using FTIR
Improving Battery Production Yield, Performance, and Stability Using FTIR
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Průmysl a chemie, Materiálová analýza
Otevřít dokument Improving Spectral Quality Using Beam Collimation Control
Improving Spectral Quality Using Beam Collimation Control
UV–VIS Spektrofotometrie, NIR Spektroskopie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie, NIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
