Aplikace z oblasti Materiálová analýza od Agilent Technologies - strana 14
Otevřít dokument Measuring the reflective properties of architectural glass using the Agilent Cary 630 FTIR with 10 degree Specular Refl ectance Accessory
Measuring the reflective properties of architectural glass using the Agilent Cary 630 FTIR with 10 degree Specular Refl ectance Accessory
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Determining the effects of angle on the infra-red reflectance properties of thin films in architectural glass using the Agilent Cary 630 FTIR
Determining the effects of angle on the infra-red reflectance properties of thin films in architectural glass using the Agilent Cary 630 FTIR
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Measuring diffuse refl ectance of solid samples with the Agilent Cary 60 UV-Vis
Measuring diffuse refl ectance of solid samples with the Agilent Cary 60 UV-Vis
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Measuring the reflectance of very small samples using the Agilent Cary 60 Remote Diffuse Reflectance Accessory (DRA)
Measuring the reflectance of very small samples using the Agilent Cary 60 Remote Diffuse Reflectance Accessory (DRA)
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Direct measurement of trace rare earth elements (REEs) in high-purity REE oxide using the Agilent 8800 Triple Quadrupole ICP-MS with MS/MS mode
Direct measurement of trace rare earth elements (REEs) in high-purity REE oxide using the Agilent 8800 Triple Quadrupole ICP-MS with MS/MS mode
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Curve Correction in Atomic Absorption
Curve Correction in Atomic Absorption
AAS
Instrumentace
AAS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Evaluation of the Cary Absolute Specular Reflectance accessory for the measurement of optical constants of thin films
Evaluation of the Cary Absolute Specular Reflectance accessory for the measurement of optical constants of thin films
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Measuring the UV protection factor (UPF) of fabrics and clothing
Measuring the UV protection factor (UPF) of fabrics and clothing
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Characterizing sub-nanometer narrow bandpass filters using a Cary 400/500
Characterizing sub-nanometer narrow bandpass filters using a Cary 400/500
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument The characterization of optical components using the Cary Deep UV spectrophotometer and ‘VW’ specular reflectance accessory
The characterization of optical components using the Cary Deep UV spectrophotometer and ‘VW’ specular reflectance accessory
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
