Aplikace z oblasti Materiálová analýza se zaměřením na UV–VIS Spektrofotometrie - strana 3

Otevřít dokument Instruments for Analyzing / Evaluating Electronic Device

Instruments for Analyzing / Evaluating Electronic Device

Brožury a specifikace
| 2022 | Shimadzu
GC/MSD, HeadSpace, Termální desorpce, Pyrolýza, GC/SQ, Iontová chromatografie, NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie, ICP/MS, ICP-OES, AAS, FTIR Spektroskopie, Mikroskopie, X-ray, TOC
Instrumentace
GC/MSD, HeadSpace, Termální desorpce, Pyrolýza, GC/SQ, Iontová chromatografie, NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie, ICP/MS, ICP-OES, AAS, FTIR Spektroskopie, Mikroskopie, X-ray, TOC
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza, Polovodiče
Otevřít dokument Spectroelectrochemistry Applications Book

Spectroelectrochemistry Applications Book

Příručky
| 2022 | Metrohm
RAMAN Spektrometrie, NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie, Elektrochemie
Instrumentace
RAMAN Spektrometrie, NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie, Elektrochemie
Výrobce
Metrohm
Zaměření
Průmysl a chemie, Materiálová analýza
Otevřít dokument A Faster, More Accurate Way of Characterizing Cube Beamsplitters

A Faster, More Accurate Way of Characterizing Cube Beamsplitters

Aplikace
| 2022 | Agilent Technologies
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument A Faster, More Accurate Way of Characterizing Cube Beamsplitters

A Faster, More Accurate Way of Characterizing Cube Beamsplitters

Aplikace
| 2022 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Automated, Unattended, Multi-Angle Transmission and Absolute Reflection Measurements

Automated, Unattended, Multi-Angle Transmission and Absolute Reflection Measurements

Aplikace
| 2022 | Agilent Technologies
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Investigating the Angular Dependence of Absolute Specular Reflection

Investigating the Angular Dependence of Absolute Specular Reflection

Aplikace
| 2022 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Optical Characterization of Thin Films

Optical Characterization of Thin Films

Aplikace
| 2022 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Gaining Deeper Insights into Thin Film Response

Gaining Deeper Insights into Thin Film Response

Aplikace
| 2022 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Regulatory Calculations Using the Spectral Evaluation Function: Evaluating Spectacle Lenses as Specified by JIS T7333

Regulatory Calculations Using the Spectral Evaluation Function: Evaluating Spectacle Lenses as Specified by JIS T7333

Aplikace
| 2022 | Shimadzu
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument UPF Evaluation of Fabric Products such as Functional Masks

UPF Evaluation of Fabric Products such as Functional Masks

Aplikace
| 2021 | Shimadzu
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza