▾
CS
▾
Obor
ALL
GCMS
LCMS
Rozcestník
Novinky
Články
Události
Akademie
již brzy
Knihovna
Webináře
Produkty
Přístroje a služby
Marketplace
Společnosti
Komerční
Nekomerční
Mediální
Kariéra
Nabídky práce
Všechny obory
GCMS
LCMS
Účet
Přihlásit se
Registrovat
▾
Novinky
▾
Knihovna
Webináře
Produkty
▾
Společnosti
▾
Kariéra
▾
CS
▾
Databáze
ICPMS
GCMS
LCMS
Zaměření
Farmaceutická analýza
(12)
Forenzní analýza a toxikologie
(9)
Klinická analýza
(10)
Materiálová analýza
(22)
Polovodiče
Polovodiče
Instrumentace
AAS
(3)
Elementární analýza
(4)
FTIR Spektroskopie
(15)
GD/MP/ICP-AES
(3)
Výrobce
Agilent Technologies
(71)
Bruker
(3)
CEM
(1)
Elemental Scientific
(4)
Autor
Agilent Technologies
(71)
Bruker Optics
(3)
Metrohm
(4)
Savillex
(3)
Typ Publikace
Aplikace
(77)
Brožury a specifikace
(4)
Manuály
(1)
Ostatní
(19)
Rok vydání
Aplikace z oblasti Polovodiče - strana 9
Otevřít dokument Direct Analysis of Trace Metal Impurities in High Purity Nitric Acid Using ICP-QQQ
Direct Analysis of Trace Metal Impurities in High Purity Nitric Acid Using ICP-QQQ
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Otevřít dokument Automated Analysis of Semiconductor Grade Hydrogen Peroxide and DI Water using ICP-QQQ
Automated Analysis of Semiconductor Grade Hydrogen Peroxide and DI Water using ICP-QQQ
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Otevřít dokument Analysis of Ultratrace Impurities in High Purity Copper using the Agilent 8900 ICP-QQQ
Analysis of Ultratrace Impurities in High Purity Copper using the Agilent 8900 ICP-QQQ
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Průmysl a chemie, Polovodiče
Otevřít dokument Ultra-low level determination of phosphorus, sulfur, silicon and chlorine using the Agilent 8900 ICP-QQQ
Ultra-low level determination of phosphorus, sulfur, silicon and chlorine using the Agilent 8900 ICP-QQQ
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Otevřít dokument Determination of trace elements in ultrapure semiconductor grade sulfuric acid using the Agilent 8900 ICP-QQQ in MS/MS mode
Determination of trace elements in ultrapure semiconductor grade sulfuric acid using the Agilent 8900 ICP-QQQ in MS/MS mode
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Otevřít dokument Agilent ICP-MS Journal (April 2018. Issue 72)
Agilent ICP-MS Journal (April 2018. Issue 72)
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Potraviny a zemědělství, Polovodiče
Otevřít dokument WCPS: Accurate determination of Eu, and Sm in ultra-pure barium carbonate materials by ICP-QQQ
WCPS: Accurate determination of Eu, and Sm in ultra-pure barium carbonate materials by ICP-QQQ
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza, Polovodiče
Otevřít dokument Determination of ultratrace elements in semiconductor grade Isopropyl Alcohol using the Thermo Scientific iCAP RQ ICP-MS
Determination of ultratrace elements in semiconductor grade Isopropyl Alcohol using the Thermo Scientific iCAP RQ ICP-MS
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Thermo Fisher Scientific
Zaměření
Polovodiče
Otevřít dokument Routine determination of ultratrace elements in semiconductor grade nitric acid by the Thermo Scientific iCAP RQ ICP-MS
Routine determination of ultratrace elements in semiconductor grade nitric acid by the Thermo Scientific iCAP RQ ICP-MS
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Thermo Fisher Scientific
Zaměření
Polovodiče
Otevřít dokument Determination of ultratrace elements in semiconductor grade sulfuric acid using the Thermo Scientific iCAP RQ ICP-MS
Determination of ultratrace elements in semiconductor grade sulfuric acid using the Thermo Scientific iCAP RQ ICP-MS
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Thermo Fisher Scientific
Zaměření
Polovodiče
Před
1
...
8
9
10
...
Další