▾
CS
▾
Obor
ALL
GCMS
LCMS
Rozcestník
Novinky
Články
Události
Akademie
již brzy
Knihovna
Webináře
Produkty
Přístroje a služby
Marketplace
Společnosti
Komerční
Nekomerční
Mediální
Kariéra
Nabídky práce
Všechny obory
GCMS
LCMS
Účet
Přihlásit se
Registrovat
▾
Novinky
▾
Knihovna
Webináře
Produkty
▾
Společnosti
▾
Kariéra
▾
CS
▾
Databáze
ICPMS
GCMS
LCMS
Zaměření
Farmaceutická analýza
(3)
Klinická analýza
(1)
Materiálová analýza
(1)
Polovodiče
Polovodiče
Instrumentace
AAS
(1)
GD/MP/ICP-AES
(1)
ICP-OES
(1)
ICP/MS
(41)
Výrobce
Agilent Technologies
(41)
CEM
(1)
Elemental Scientific
(2)
Metrohm
(1)
Autor
Agilent Technologies
(41)
Typ Publikace
Aplikace
(23)
Brožury a specifikace
(1)
Ostatní
(9)
Postery
(4)
Rok vydání
8900 Aplikace z oblasti Polovodiče - strana 4
Otevřít dokument Agilent Atomic Spectroscopy Solutions for the Semiconductor Industry
Agilent Atomic Spectroscopy Solutions for the Semiconductor Industry
ICP/MS, ICP-OES, AAS, ICP/MS/MS, GD/MP/ICP-AES
Instrumentace
ICP/MS, ICP-OES, AAS, ICP/MS/MS, GD/MP/ICP-AES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Otevřít dokument Agilent ICP-MS Journal (April 2020, Issue 80)
Agilent ICP-MS Journal (April 2020, Issue 80)
Software, ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
Software, ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Otevřít dokument Using ICP-MS/MS with M-Lens for the analysis of high silicon matrix samples
Using ICP-MS/MS with M-Lens for the analysis of high silicon matrix samples
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Otevřít dokument Direct Analysis of Metallic Impurities in SiC and GaN Wafers by LA-GED-MSAG-ICP-MS/MS
Direct Analysis of Metallic Impurities in SiC and GaN Wafers by LA-GED-MSAG-ICP-MS/MS
ICP/MS, ICP/MS/MS, Laserová ablace
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS, Laserová ablace
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Otevřít dokument Agilent ICP-MS Journal (November 2022, Issue 90)
Agilent ICP-MS Journal (November 2022, Issue 90)
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Průmysl a chemie, Farmaceutická analýza, Polovodiče
Otevřít dokument Direct Analysis of Trace Metal Impurities in High Purity Nitric Acid Using ICP-QQQ
Direct Analysis of Trace Metal Impurities in High Purity Nitric Acid Using ICP-QQQ
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Otevřít dokument Agilent ICP-MS Journal (July 2017 – Issue 69)
Agilent ICP-MS Journal (July 2017 – Issue 69)
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Životní prostředí, Farmaceutická analýza, Polovodiče
Otevřít dokument Agilent ICP-MS Journal (October 2020, Issue 82)
Agilent ICP-MS Journal (October 2020, Issue 82)
HPLC, ICP/MS, Speciační analýza, ICP/MS/MS
Instrumentace
HPLC, ICP/MS, Speciační analýza, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Životní prostředí, Potraviny a zemědělství, Průmysl a chemie, Polovodiče
Otevřít dokument Agilent 9500 ICP‑QQQ with m‑Lens for Ultratrace Analysis of High‑Purity Reagents
Agilent 9500 ICP‑QQQ with m‑Lens for Ultratrace Analysis of High‑Purity Reagents
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Otevřít dokument Technical Overview and Performance Capability of the Agilent 7900s ICP-MS for Semiconductor Applications
Technical Overview and Performance Capability of the Agilent 7900s ICP-MS for Semiconductor Applications
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Před
1
...
3
4
5
Další