▾
CS
▾
Obor
ALL
GCMS
LCMS
Rozcestník
Novinky
Články
Události
Akademie
již brzy
Knihovna
Webináře
Produkty
Přístroje a služby
Marketplace
Společnosti
Komerční
Nekomerční
Mediální
Kariéra
Nabídky práce
Všechny obory
GCMS
LCMS
Účet
Přihlásit se
Registrovat
▾
Novinky
▾
Knihovna
Webináře
Produkty
▾
Společnosti
▾
Kariéra
▾
CS
▾
Databáze
ICPMS
GCMS
LCMS
Zaměření
Farmaceutická analýza
(3)
Klinická analýza
(1)
Materiálová analýza
(1)
Polovodiče
Polovodiče
Instrumentace
AAS
(1)
GD/MP/ICP-AES
(1)
ICP-OES
(1)
ICP/MS
(41)
Výrobce
Agilent Technologies
(41)
CEM
(1)
Elemental Scientific
(2)
Metrohm
(1)
Autor
Agilent Technologies
(41)
Typ Publikace
Aplikace
(23)
Brožury a specifikace
(1)
Ostatní
(9)
Postery
(4)
Rok vydání
8900 Aplikace z oblasti Polovodiče - strana 3
Otevřít dokument Determination of ultra trace elements in high purity hydrogen peroxide with Agilent 8900 ICP-QQQ
Determination of ultra trace elements in high purity hydrogen peroxide with Agilent 8900 ICP-QQQ
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Otevřít dokument Multielement Nanoparticle Analysis of Semiconductor Process Chemicals Using spICP-QQQ
Multielement Nanoparticle Analysis of Semiconductor Process Chemicals Using spICP-QQQ
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Otevřít dokument Automated Surface Analysis of Metal Contaminants in Silicon Wafers by Online VPD-ICP-MS/MS
Automated Surface Analysis of Metal Contaminants in Silicon Wafers by Online VPD-ICP-MS/MS
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Otevřít dokument Analysis of 15 nm Iron Nanoparticles in Organic Solvents by spICP-MS
Analysis of 15 nm Iron Nanoparticles in Organic Solvents by spICP-MS
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Otevřít dokument Handbook of ICP-QQQ Applications using the Agilent 8800 and 8900
Handbook of ICP-QQQ Applications using the Agilent 8800 and 8900
GC, HPLC, ICP/MS, Speciační analýza, ICP/MS/MS
Instrumentace
GC, HPLC, ICP/MS, Speciační analýza, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies, Elemental Scientific
Zaměření
Životní prostředí, Potraviny a zemědělství, Průmysl a chemie, Farmaceutická analýza, Materiálová analýza, Polovodiče, Klinická analýza
Otevřít dokument WCPS: Determination of Ultra Trace Elements in High Purity Reagents by Automatic Standard Addition Methods Using prepFAST S - ICP-MS/MS
WCPS: Determination of Ultra Trace Elements in High Purity Reagents by Automatic Standard Addition Methods Using prepFAST S - ICP-MS/MS
Příprava vzorků, ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
Příprava vzorků, ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies, Elemental Scientific
Zaměření
Průmysl a chemie, Polovodiče
Otevřít dokument Analysis of Metallic Impurities in Specialty Semiconductor Gases Using Gas Exchange Device (GED)-ICP-MS
Analysis of Metallic Impurities in Specialty Semiconductor Gases Using Gas Exchange Device (GED)-ICP-MS
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Otevřít dokument Automated Analysis of Ultratrace Elemental Impurities in Isopropyl Alcohol
Automated Analysis of Ultratrace Elemental Impurities in Isopropyl Alcohol
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Otevřít dokument Agilent 7900s ICP-MS for Semiconductor Applications
Agilent 7900s ICP-MS for Semiconductor Applications
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Otevřít dokument Determination of Trace Impurities in Electronic Grade Arsine by GC-ICP-QQQ
Determination of Trace Impurities in Electronic Grade Arsine by GC-ICP-QQQ
GC, ICP/MS, Speciační analýza, ICP/MS/MS
Instrumentace
GC, ICP/MS, Speciační analýza, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Před
1
2
3
4
...
Další