8900 Aplikace z oblasti Polovodiče - strana 3

Otevřít dokument Determination of ultra trace elements in high purity hydrogen peroxide with Agilent 8900 ICP-QQQ

Determination of ultra trace elements in high purity hydrogen peroxide with Agilent 8900 ICP-QQQ

ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Otevřít dokument Multielement Nanoparticle Analysis of Semiconductor Process Chemicals Using spICP-QQQ

Multielement Nanoparticle Analysis of Semiconductor Process Chemicals Using spICP-QQQ

ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Otevřít dokument Automated Surface Analysis of Metal Contaminants in Silicon Wafers by Online VPD-ICP-MS/MS

Automated Surface Analysis of Metal Contaminants in Silicon Wafers by Online VPD-ICP-MS/MS

ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Otevřít dokument Analysis of 15 nm Iron Nanoparticles in Organic Solvents by spICP-MS

Analysis of 15 nm Iron Nanoparticles in Organic Solvents by spICP-MS

ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Otevřít dokument Handbook of ICP-QQQ Applications using the Agilent 8800 and 8900

Handbook of ICP-QQQ Applications using the Agilent 8800 and 8900

GC, HPLC, ICP/MS, Speciační analýza, ICP/MS/MS
Instrumentace
GC, HPLC, ICP/MS, Speciační analýza, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies, Elemental Scientific
Zaměření
Životní prostředí, Potraviny a zemědělství, Průmysl a chemie, Farmaceutická analýza, Materiálová analýza, Polovodiče, Klinická analýza
Otevřít dokument WCPS: Determination of Ultra Trace Elements in High Purity Reagents by Automatic Standard Addition Methods Using prepFAST S - ICP-MS/MS

WCPS: Determination of Ultra Trace Elements in High Purity Reagents by Automatic Standard Addition Methods Using prepFAST S - ICP-MS/MS

Příprava vzorků, ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
Příprava vzorků, ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies, Elemental Scientific
Zaměření
Průmysl a chemie, Polovodiče
Otevřít dokument Analysis of Metallic Impurities in Specialty Semiconductor Gases Using Gas Exchange Device (GED)-ICP-MS

Analysis of Metallic Impurities in Specialty Semiconductor Gases Using Gas Exchange Device (GED)-ICP-MS

ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Otevřít dokument Automated Analysis of Ultratrace Elemental Impurities in Isopropyl Alcohol

Automated Analysis of Ultratrace Elemental Impurities in Isopropyl Alcohol

ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Otevřít dokument Agilent 7900s ICP-MS for Semiconductor Applications

Agilent 7900s ICP-MS for Semiconductor Applications

ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Otevřít dokument Determination of Trace Impurities in Electronic Grade Arsine by GC-ICP-QQQ

Determination of Trace Impurities in Electronic Grade Arsine by GC-ICP-QQQ

GC, ICP/MS, Speciační analýza, ICP/MS/MS
Instrumentace
GC, ICP/MS, Speciační analýza, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče