Aplikace z oblasti Polovodiče - strana 10
Otevřít dokument Analysis of Trace Metal Impurities in High Purity Hydrochloric Acid Using ICP-QQQ
Analysis of Trace Metal Impurities in High Purity Hydrochloric Acid Using ICP-QQQ
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Otevřít dokument Direct Measurement of Metallic Impurities in 20% Ammonium Hydroxide by 7700s/7900 ICP-MS
Direct Measurement of Metallic Impurities in 20% Ammonium Hydroxide by 7700s/7900 ICP-MS
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Otevřít dokument Agilent ICP-MS Journal (July 2017 – Issue 69)
Agilent ICP-MS Journal (July 2017 – Issue 69)
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Životní prostředí, Farmaceutická analýza, Polovodiče
Otevřít dokument Determination of ultra trace elements in high purity hydrogen peroxide with Agilent 8900 ICP-QQQ
Determination of ultra trace elements in high purity hydrogen peroxide with Agilent 8900 ICP-QQQ
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Otevřít dokument Gas chromatographic separation of metal carbonyls in carbon monoxide with detection using the Agilent 8800 ICP-QQQ
Gas chromatographic separation of metal carbonyls in carbon monoxide with detection using the Agilent 8800 ICP-QQQ
GC, ICP/MS, Speciační analýza, ICP/MS/MS
Instrumentace
GC, ICP/MS, Speciační analýza, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Průmysl a chemie, Polovodiče
Otevřít dokument Agilent ICP-MS Journal (December 2016 – Issue 67)
Agilent ICP-MS Journal (December 2016 – Issue 67)
ICP/MS, Speciační analýza, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, Speciační analýza, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Životní prostředí, Polovodiče
Otevřít dokument Sub-ppb detection limits for hydride gas contaminants using GC-ICP-QQQ
Sub-ppb detection limits for hydride gas contaminants using GC-ICP-QQQ
GC, Speciační analýza, ICP/MS/MS
Instrumentace
GC, Speciační analýza, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Průmysl a chemie, Polovodiče
Otevřít dokument Quantitative analysis of high purity metals using laser ablation coupled to an Agilent 7900 ICP-MS
Quantitative analysis of high purity metals using laser ablation coupled to an Agilent 7900 ICP-MS
ICP/MS, Laserová ablace
Instrumentace
ICP/MS, Laserová ablace
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Průmysl a chemie, Polovodiče
Otevřít dokument Determination of challenging elements in ultrapure semiconductor grade sulfuric acid by Triple Quadrupole ICP-MS
Determination of challenging elements in ultrapure semiconductor grade sulfuric acid by Triple Quadrupole ICP-MS
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Otevřít dokument Damage-free failure/defect analysis in electronics and semiconductor industries using micro-ATR FTIR imaging
Damage-free failure/defect analysis in electronics and semiconductor industries using micro-ATR FTIR imaging
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza, Polovodiče
