Aplikace z oblasti Polovodiče od Agilent Technologies - strana 3
Otevřít dokument Agilent ICP-MS Journal (November 2021, Issue 86)
Agilent ICP-MS Journal (November 2021, Issue 86)
Iontová chromatografie, IC-MS, ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
Iontová chromatografie, IC-MS, ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies, Metrohm, CEM
Zaměření
Životní prostředí, Potraviny a zemědělství, Polovodiče
Otevřít dokument Analysis of Ultratrace Impurities in High Silicon Matrix Samples by ICP-QQQ
Analysis of Ultratrace Impurities in High Silicon Matrix Samples by ICP-QQQ
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Otevřít dokument Ultrapure Process Chemicals Analysis by ICP-QQQ with Hot Plasma Conditions
Ultrapure Process Chemicals Analysis by ICP-QQQ with Hot Plasma Conditions
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Otevřít dokument Technical Overview and Performance Capability of the Agilent 7900s ICP-MS for Semiconductor Applications
Technical Overview and Performance Capability of the Agilent 7900s ICP-MS for Semiconductor Applications
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Otevřít dokument Coated Wafer Mapping Using UV-Vis Spectral Reflection and Transmission Measurements
Coated Wafer Mapping Using UV-Vis Spectral Reflection and Transmission Measurements
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza, Polovodiče
Otevřít dokument Determination of Trace Impurities in Electronic Grade Arsine by GC-ICP-QQQ
Determination of Trace Impurities in Electronic Grade Arsine by GC-ICP-QQQ
GC, ICP/MS, Speciační analýza, ICP/MS/MS
Instrumentace
GC, ICP/MS, Speciační analýza, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Otevřít dokument Agilent Atomic Spectroscopy Solutions for the Semiconductor Industry
Agilent Atomic Spectroscopy Solutions for the Semiconductor Industry
ICP/MS, ICP-OES, AAS, ICP/MS/MS, GD/MP/ICP-AES
Instrumentace
ICP/MS, ICP-OES, AAS, ICP/MS/MS, GD/MP/ICP-AES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Otevřít dokument Analysis of 15 nm Iron Nanoparticles in Organic Solvents by spICP-MS
Analysis of 15 nm Iron Nanoparticles in Organic Solvents by spICP-MS
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Otevřít dokument Using ICP-MS/MS with M-Lens for the analysis of high silicon matrix samples
Using ICP-MS/MS with M-Lens for the analysis of high silicon matrix samples
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Otevřít dokument Agilent 7900s ICP-MS for Semiconductor Applications
Agilent 7900s ICP-MS for Semiconductor Applications
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
