▾
CS
▾
Obor
ALL
GCMS
LCMS
Rozcestník
Novinky
Články
Události
Akademie
již brzy
Knihovna
Webináře
Produkty
Přístroje a služby
Marketplace
Společnosti
Komerční
Nekomerční
Mediální
Kariéra
Nabídky práce
Všechny obory
GCMS
LCMS
Účet
Přihlásit se
Registrovat
▾
Novinky
▾
Knihovna
Webináře
Produkty
▾
Společnosti
▾
Kariéra
▾
CS
▾
Databáze
ICPMS
GCMS
LCMS
Zaměření
Materiálová analýza
(3)
Polovodiče
Průmysl a chemie
(1)
Polovodiče
Instrumentace
NIR Spektroskopie
UV–VIS Spektrofotometrie
(3)
NIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
(3)
Autor
Agilent Technologies
Metrohm
(2)
Shimadzu
(1)
Agilent Technologies
Typ Publikace
Aplikace
(2)
Příručky
(1)
Rok vydání
Aplikace z oblasti Polovodiče se zaměřením na NIR Spektroskopie od Agilent Technologies - strana 1
Otevřít dokument Optical Characterization of Materials Using Spectroscopy
Optical Characterization of Materials Using Spectroscopy
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Průmysl a chemie, Materiálová analýza, Polovodiče
Otevřít dokument Coated Wafer Mapping Using UV-Vis Spectral Reflection and Transmission Measurements
Coated Wafer Mapping Using UV-Vis Spectral Reflection and Transmission Measurements
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza, Polovodiče
Otevřít dokument Measuring the optical properties of photovoltaic cells using the Agilent Cary 5000 UV-Vis-NIR spectrophotometer and the External DRA-2500
Measuring the optical properties of photovoltaic cells using the Agilent Cary 5000 UV-Vis-NIR spectrophotometer and the External DRA-2500
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza, Polovodiče
Před
1
Další