▾
CS
▾
Obor
ALL
ICPMS
LCMS
Rozcestník
Novinky
Články
Události
Akademie
již brzy
Knihovna
Webináře
Produkty
Přístroje a služby
Marketplace
Společnosti
Komerční
Nekomerční
Mediální
Kariéra
Nabídky práce
Všechny obory
ICPMS
LCMS
Účet
Přihlásit se
Registrovat
▾
Novinky
▾
Knihovna
Webináře
Produkty
▾
Společnosti
▾
Kariéra
▾
CS
▾
Databáze
GCMS
LCMS
ICPMS
Zaměření
Farmaceutická analýza
(4)
Forenzní analýza a toxikologie
(1)
Materiálová analýza
(5)
Metabolomika
(1)
Instrumentace
GC
(1)
GC/HRMS
GC/MSD
(14)
GC/SQ
(3)
GC/HRMS
Výrobce
Agilent Technologies
(2)
Frontier Lab
(2)
HTA
(1)
JEOL
JEOL
Autor
JEOL
(9)
ZOEX/JSB
(1)
Typ Publikace
Aplikace
(6)
Ostatní
(4)
Postery
(1)
Prezentace
(4)
Rok vydání
Aplikace se zaměřením na GC/HRMS - strana 2
Otevřít dokument Ethylene Propylene Diene Monomer Rubber Analysis by using Pyrolysis-GCxGC-MS
Ethylene Propylene Diene Monomer Rubber Analysis by using Pyrolysis-GCxGC-MS
GCxGC, GC/MSD, GC/HRMS, Pyrolýza, GC/TOF
Instrumentace
GCxGC, GC/MSD, GC/HRMS, Pyrolýza, GC/TOF
Výrobce
JEOL
Zaměření
Průmysl a chemie
Otevřít dokument Ion Exchange Resin Analysis by using Pyrolysis-GCxGC-MS
Ion Exchange Resin Analysis by using Pyrolysis-GCxGC-MS
GCxGC, GC/MSD, GC/HRMS, Pyrolýza, GC/TOF
Instrumentace
GCxGC, GC/MSD, GC/HRMS, Pyrolýza, GC/TOF
Výrobce
JEOL
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Natural Polymer Analysis by using Pyrolysis-GCxGC-MSー”Urushi” analysis with GCxGC/EI and GCxGC/PI
Natural Polymer Analysis by using Pyrolysis-GCxGC-MSー”Urushi” analysis with GCxGC/EI and GCxGC/PI
GCxGC, GC/MSD, GC/HRMS, GC/TOF
Instrumentace
GCxGC, GC/MSD, GC/HRMS, GC/TOF
Výrobce
JEOL
Zaměření
Průmysl a chemie
Otevřít dokument AccuTOF GC series Applications Notebook
AccuTOF GC series Applications Notebook
GC, GCxGC, GC/HRMS, SPME, Termální desorpce, Pyrolýza, GC/TOF
Instrumentace
GC, GCxGC, GC/HRMS, SPME, Termální desorpce, Pyrolýza, GC/TOF
Výrobce
Agilent Technologies, JEOL
Zaměření
Životní prostředí, Potraviny a zemědělství, Forenzní analýza a toxikologie, Průmysl a chemie, Materiálová analýza, Polovodiče, Ostatní
Otevřít dokument The use of Kendrick mass defect plots, a new feature in GC Image™ software for GC x GC/high resolution mass spectrometric data analysis: an application on the identification of halogenated contaminants in electronic waste
The use of Kendrick mass defect plots, a new feature in GC Image™ software for GC x GC/high resolution mass spectrometric data analysis: an application on the identification of halogenated contaminants in electronic waste
GCxGC, GC/MSD, GC/HRMS, GC/TOF, Software
Instrumentace
GCxGC, GC/MSD, GC/HRMS, GC/TOF, Software
Výrobce
JEOL, ZOEX/JSB
Zaměření
Materiálová analýza, Polovodiče
Před
1
2
Další