▾
CS
▾
Obor
ALL
ICPMS
LCMS
Rozcestník
Novinky
Články
Události
Akademie
již brzy
Knihovna
Webináře
Produkty
Přístroje a služby
Marketplace
Společnosti
Komerční
Nekomerční
Mediální
Kariéra
Nabídky práce
Všechny obory
ICPMS
LCMS
Účet
Přihlásit se
Registrovat
▾
Novinky
▾
Knihovna
Webináře
Produkty
▾
Společnosti
▾
Kariéra
▾
CS
▾
Databáze
GCMS
LCMS
ICPMS
Zaměření
Farmaceutická analýza
(9)
Forenzní analýza a toxikologie
(5)
Klinická analýza
(4)
Materiálová analýza
Materiálová analýza
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
(52)
GC
(38)
GC kolony
(24)
GC/HRMS
(9)
Výrobce
ARC
(1)
Agilent Technologies
Axel Semrau
(1)
CDS Analytical
(7)
Agilent Technologies
Autor
ARC
(1)
Agilent Technologies
(133)
Axel Semrau
(1)
CDS Analytical
(4)
Typ Publikace
Aplikace
(146)
Brožury a specifikace
(6)
Ostatní
(7)
Postery
(6)
Rok vydání
Aplikace z oblasti Materiálová analýza - strana 3
Otevřít dokument Material Identification of Plastics Throughout Their Life Cycle by FTIR Spectroscopy
Material Identification of Plastics Throughout Their Life Cycle by FTIR Spectroscopy
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Non-Destructive Analysis of Substrates and Contaminants by FTIR with Specular Reflectance Interface
Non-Destructive Analysis of Substrates and Contaminants by FTIR with Specular Reflectance Interface
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Evaluation of the Cary Absolute Specular Reflectance Accessory for the Measurement of Optical Constants of Thin Films
Evaluation of the Cary Absolute Specular Reflectance Accessory for the Measurement of Optical Constants of Thin Films
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Characterizing Sub-Nanometer Narrow Bandpass Filters Using an Agilent Cary UV-Vis-NIR
Characterizing Sub-Nanometer Narrow Bandpass Filters Using an Agilent Cary UV-Vis-NIR
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Measuring the Optical Properties of Photovoltaic Cells
Measuring the Optical Properties of Photovoltaic Cells
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Measurement of Diffuse Reflection from Catalyst Powders
Measurement of Diffuse Reflection from Catalyst Powders
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Advancing Research of Lithium-Ion Batteries Using the Agilent Cary 630 FTIR Spectrometer
Advancing Research of Lithium-Ion Batteries Using the Agilent Cary 630 FTIR Spectrometer
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Applications of FTIR Throughout the Lithium Ion Battery Life Cycle
Applications of FTIR Throughout the Lithium Ion Battery Life Cycle
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Agilent AI Peak Integration for MassHunter
Agilent AI Peak Integration for MassHunter
GC/MSD, Software
Instrumentace
GC/MSD, Software
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Optical Characterization of Materials Using Spectroscopy
Optical Characterization of Materials Using Spectroscopy
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Průmysl a chemie, Materiálová analýza, Polovodiče
Před
1
2
3
4
...
Další