Aplikace z oblasti Materiálová analýza - strana 2

Otevřít dokument CASE and Weight Reduction Development of Automobile

CASE and Weight Reduction Development of Automobile

Termální analýza, X-ray, UV–VIS Spektrofotometrie, NIR Spektroskopie, Mikroskopie, FTIR Spektroskopie, GC/SQ, Termální desorpce, GC, HPLC, GC/MSD, Mechanické zkoušky
Instrumentace
Termální analýza, X-ray, UV–VIS Spektrofotometrie, NIR Spektroskopie, Mikroskopie, FTIR Spektroskopie, GC/SQ, Termální desorpce, GC, HPLC, GC/MSD, Mechanické zkoušky
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Multifaceted Evaluation of Gemstones Using UV-Vis and EDXRF

Multifaceted Evaluation of Gemstones Using UV-Vis and EDXRF

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie, X-ray
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie, X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Instruments for Analyzing / Evaluating Electronic Device

Instruments for Analyzing / Evaluating Electronic Device

GC/MSD, HeadSpace, Termální desorpce, Pyrolýza, GC/SQ, Iontová chromatografie, NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie, ICP/MS, ICP-OES, AAS, FTIR Spektroskopie, Mikroskopie, X-ray, TOC
Instrumentace
GC/MSD, HeadSpace, Termální desorpce, Pyrolýza, GC/SQ, Iontová chromatografie, NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie, ICP/MS, ICP-OES, AAS, FTIR Spektroskopie, Mikroskopie, X-ray, TOC
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza, Polovodiče
Otevřít dokument Spectroelectrochemistry Applications Book

Spectroelectrochemistry Applications Book

RAMAN Spektrometrie, NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie, Elektrochemie
Instrumentace
RAMAN Spektrometrie, NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie, Elektrochemie
Výrobce
Metrohm
Zaměření
Průmysl a chemie, Materiálová analýza
Otevřít dokument A Faster, More Accurate Way of Characterizing Cube Beamsplitters

A Faster, More Accurate Way of Characterizing Cube Beamsplitters

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Optical Characterization of Thin Films

Optical Characterization of Thin Films

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Gaining Deeper Insights into Thin Film Response

Gaining Deeper Insights into Thin Film Response

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument LiDAR Evaluation System: Measurement of Transmittance/Reflectance of Optical Materials

LiDAR Evaluation System: Measurement of Transmittance/Reflectance of Optical Materials

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Coated Wafer Mapping Using UV-Vis Spectral Reflection and Transmission Measurements

Coated Wafer Mapping Using UV-Vis Spectral Reflection and Transmission Measurements

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza, Polovodiče
Otevřít dokument Agilent Solutions for Lithium-Ion Battery Industry

Agilent Solutions for Lithium-Ion Battery Industry

GC, GC/MSD, GC/MS/MS, GC/HRMS, GC/SQ, GC/Q-TOF, LC/TOF, LC/HRMS, LC/MS, LC/MS/MS, UV–VIS Spektrofotometrie, ICP/MS, ICP-OES, AAS, FTIR Spektroskopie
Instrumentace
GC, GC/MSD, GC/MS/MS, GC/HRMS, GC/SQ, GC/Q-TOF, LC/TOF, LC/HRMS, LC/MS, LC/MS/MS, UV–VIS Spektrofotometrie, ICP/MS, ICP-OES, AAS, FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Průmysl a chemie, Materiálová analýza