Aplikace z oblasti Materiálová analýza - strana 1

Otevřít dokument Recycled Plastic Analysis Solutions

Recycled Plastic Analysis Solutions

FTIR Spektroskopie, Termální analýza, GPC/SEC, MALDI, LC/MS, LC/TOF, UV–VIS Spektrofotometrie, X-ray, Mechanické zkoušky, Reometrie, Optická emisní spektroskopie (OES), HeadSpace, GC/MSD, GC/SQ, TOC
Instrumentace
FTIR Spektroskopie, Termální analýza, GPC/SEC, MALDI, LC/MS, LC/TOF, UV–VIS Spektrofotometrie, X-ray, Mechanické zkoušky, Reometrie, Optická emisní spektroskopie (OES), HeadSpace, GC/MSD, GC/SQ, TOC
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza, Průmysl a chemie
Otevřít dokument Utilizing UV-Visible Spectroscopy for Color Analysis of Fabrics

Utilizing UV-Visible Spectroscopy for Color Analysis of Fabrics

UV–VIS Spektrofotometrie, FTIR Spektroskopie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie, FTIR Spektroskopie
Výrobce
Thermo Fisher Scientific
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Improving Spectral Quality Using Beam Collimation Control

Improving Spectral Quality Using Beam Collimation Control

UV–VIS Spektrofotometrie, NIR Spektroskopie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie, NIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Optical Characterization of Materials Using Spectroscopy

Optical Characterization of Materials Using Spectroscopy

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Průmysl a chemie, Materiálová analýza, Polovodiče
Otevřít dokument Measuring the Optical Properties of Photovoltaic Cells

Measuring the Optical Properties of Photovoltaic Cells

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Evaluation of the Cary Absolute Specular Reflectance Accessory for the Measurement of Optical Constants of Thin Films

Evaluation of the Cary Absolute Specular Reflectance Accessory for the Measurement of Optical Constants of Thin Films

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Characterizing Sub-Nanometer Narrow Bandpass Filters Using an Agilent Cary UV-Vis-NIR

Characterizing Sub-Nanometer Narrow Bandpass Filters Using an Agilent Cary UV-Vis-NIR

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Measurement of Diffuse Reflection from Catalyst Powders

Measurement of Diffuse Reflection from Catalyst Powders

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Multifaceted Evaluation of Plastics: Differences due to PC/ABS Resin Compounding Ratio

Multifaceted Evaluation of Plastics: Differences due to PC/ABS Resin Compounding Ratio

Termální analýza, UV–VIS Spektrofotometrie, FTIR Spektroskopie, Mikroskopie, Mechanické zkoušky
Instrumentace
Termální analýza, UV–VIS Spektrofotometrie, FTIR Spektroskopie, Mikroskopie, Mechanické zkoušky
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument High Temperature Dehydration Studies Using UV-Vis-NIR Diffuse Reflectance Spectroscopy

High Temperature Dehydration Studies Using UV-Vis-NIR Diffuse Reflectance Spectroscopy

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza