Aplikace z oblasti Materiálová analýza se zaměřením na NIR Spektroskopie - strana 3

Otevřít dokument Issues in the Analysis of Microplastics

Issues in the Analysis of Microplastics

Ostatní
| 2021 | Shimadzu
NIR Spektroskopie
Instrumentace
NIR Spektroskopie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Životní prostředí, Materiálová analýza
Otevřít dokument LiDAR Evaluation System: Measurement of Transmittance/Reflectance of Optical Materials

LiDAR Evaluation System: Measurement of Transmittance/Reflectance of Optical Materials

Aplikace
| 2021 | Shimadzu
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Quality Control of PVC foils

Quality Control of PVC foils

Aplikace
| 2021 | Metrohm
NIR Spektroskopie
Instrumentace
NIR Spektroskopie
Výrobce
Metrohm
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Quality Control of Silicone rubber

Quality Control of Silicone rubber

Aplikace
| 2020 | Metrohm
NIR Spektroskopie
Instrumentace
NIR Spektroskopie
Výrobce
Metrohm
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Coated Wafer Mapping Using UV-Vis Spectral Reflection and Transmission Measurements

Coated Wafer Mapping Using UV-Vis Spectral Reflection and Transmission Measurements

Aplikace
| 2020 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza, Polovodiče
Otevřít dokument Investigation of Dichroism by Spectrophotometric Methods

Investigation of Dichroism by Spectrophotometric Methods

Aplikace
| 2019 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Unattended, Automated Measurements of Optical Components in a Production Environment

Unattended, Automated Measurements of Optical Components in a Production Environment

Technické články
| 2018 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Optical Characteristics and Thickness of 2-layered Structures

Optical Characteristics and Thickness of 2-layered Structures

Aplikace
| 2018 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Molecular Spectroscopy Application eHandbook

Molecular Spectroscopy Application eHandbook

Příručky
| 2017 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie, FTIR Spektroskopie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie, FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Průmysl a chemie, Materiálová analýza
Otevřít dokument Near-infrared spectroscopy: Comparison of techniques

Near-infrared spectroscopy: Comparison of techniques

Technické články
| 2017 | Metrohm
NIR Spektroskopie
Instrumentace
NIR Spektroskopie
Výrobce
Metrohm
Zaměření
Materiálová analýza