Aplikace z oblasti Materiálová analýza se zaměřením na GC/TOF - strana 3
Otevřít dokument Identification of Components of Polymer Extracts by Gas Chromatography with EI and CI High Resolution Time-of-Flight Mass Spectrometry
Identification of Components of Polymer Extracts by Gas Chromatography with EI and CI High Resolution Time-of-Flight Mass Spectrometry
GC/MSD, GC/HRMS, GC/TOF
Instrumentace
GC/MSD, GC/HRMS, GC/TOF
Výrobce
Agilent Technologies, LECO
Zaměření
Průmysl a chemie, Materiálová analýza
Otevřít dokument Analysis of Polymer Extracts by Gas Chromatography-High Resolution Time-of-Flight Mass Spectrometry With Electron and Chemical Ionizatio
Analysis of Polymer Extracts by Gas Chromatography-High Resolution Time-of-Flight Mass Spectrometry With Electron and Chemical Ionizatio
GC/MSD, GC/HRMS, GC/TOF
Instrumentace
GC/MSD, GC/HRMS, GC/TOF
Výrobce
Agilent Technologies, LECO
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Analysis of Aircraft Cabin Air by TD-GCxGC-TOFMS
Analysis of Aircraft Cabin Air by TD-GCxGC-TOFMS
GCxGC, GC/MSD, Termální desorpce, GC/TOF
Instrumentace
GCxGC, GC/MSD, Termální desorpce, GC/TOF
Výrobce
GERSTEL, LECO
Zaměření
Životní prostředí, Materiálová analýza
Otevřít dokument Analysis of Limestone by GCxGC-TOFMS
Analysis of Limestone by GCxGC-TOFMS
GCxGC, GC/MSD, GC/TOF
Instrumentace
GCxGC, GC/MSD, GC/TOF
Výrobce
LECO
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Meteorite Analysis by GCxGC-TOFMS
Meteorite Analysis by GCxGC-TOFMS
GCxGC, GC/MSD, GC/TOF
Instrumentace
GCxGC, GC/MSD, GC/TOF
Výrobce
LECO
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument The power of exact mass measurement: an example of unknown compound identification
The power of exact mass measurement: an example of unknown compound identification
GC/MSD, GC/TOF
Instrumentace
GC/MSD, GC/TOF
Výrobce
Agilent Technologies, JEOL
Zaměření
Materiálová analýza, Polovodiče
Otevřít dokument Analysis of organic EL material by JMS-T100GC “AccuTOF GC” - comparison of FD and DEI methods
Analysis of organic EL material by JMS-T100GC “AccuTOF GC” - comparison of FD and DEI methods
GC/MSD, GC/TOF
Instrumentace
GC/MSD, GC/TOF
Výrobce
JEOL
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Detection of molecular ions from OLED material using AccuTOF GC
Detection of molecular ions from OLED material using AccuTOF GC
GC/MSD, GC/TOF
Instrumentace
GC/MSD, GC/TOF
Výrobce
JEOL
Zaměření
Materiálová analýza, Polovodiče
Otevřít dokument JEOL MS Tips
JEOL MS Tips
GC/MSD, GC/TOF
Instrumentace
GC/MSD, GC/TOF
Výrobce
JEOL
Zaměření
Potraviny a zemědělství, Průmysl a chemie, Materiálová analýza
Otevřít dokument The use of Kendrick mass defect plots, a new feature in GC Image™ software for GC x GC/high resolution mass spectrometric data analysis: an application on the identification of halogenated contaminants in electronic waste
The use of Kendrick mass defect plots, a new feature in GC Image™ software for GC x GC/high resolution mass spectrometric data analysis: an application on the identification of halogenated contaminants in electronic waste
GCxGC, GC/MSD, GC/HRMS, GC/TOF, Software
Instrumentace
GCxGC, GC/MSD, GC/HRMS, GC/TOF, Software
Výrobce
JEOL, ZOEX/JSB
Zaměření
Materiálová analýza, Polovodiče
