▾
CS
▾
Obor
ALL
ICPMS
LCMS
Rozcestník
Novinky
Články
Události
Akademie
již brzy
Knihovna
Webináře
Produkty
Přístroje a služby
Marketplace
Společnosti
Komerční
Nekomerční
Mediální
Kariéra
Nabídky práce
Všechny obory
ICPMS
LCMS
Účet
Přihlásit se
Registrovat
▾
Novinky
▾
Knihovna
Webináře
Produkty
▾
Společnosti
▾
Kariéra
▾
CS
▾
Databáze
GCMS
LCMS
ICPMS
Zaměření
Farmaceutická analýza
(1)
Forenzní analýza a toxikologie
(1)
Klinická analýza
(1)
Materiálová analýza
(7)
Polovodiče
Polovodiče
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
(2)
GC
(6)
GC/HRMS
(2)
GC/MS/MS
(1)
Výrobce
Agilent Technologies
JEOL
(2)
Agilent Technologies
Autor
Agilent Technologies
(11)
JEOL
(2)
Typ Publikace
Aplikace
(9)
Brožury a specifikace
(1)
Příručky
(3)
Rok vydání
Aplikace z oblasti Polovodiče - strana 2
Otevřít dokument Damage-free failure/defect analysis in electronics and semiconductor industries using micro-ATR FTIR imaging
Damage-free failure/defect analysis in electronics and semiconductor industries using micro-ATR FTIR imaging
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza, Polovodiče
Otevřít dokument Measuring the optical properties of photovoltaic cells using the Agilent Cary 5000 UV-Vis-NIR spectrophotometer and the External DRA-2500
Measuring the optical properties of photovoltaic cells using the Agilent Cary 5000 UV-Vis-NIR spectrophotometer and the External DRA-2500
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza, Polovodiče
Otevřít dokument The power of exact mass measurement: an example of unknown compound identification
The power of exact mass measurement: an example of unknown compound identification
GC/MSD, GC/TOF
Instrumentace
GC/MSD, GC/TOF
Výrobce
Agilent Technologies, JEOL
Zaměření
Materiálová analýza, Polovodiče
Před
1
2
Další