Aplikace z oblasti Polovodiče se zaměřením na GC/HRMS - strana 1
Otevřít dokument A Practical Guide for Understanding and Testing Hazardous Substances in Electrical and Electronic Products
A Practical Guide for Understanding and Testing Hazardous Substances in Electrical and Electronic Products
GC/MSD, LC/MS, LC/MS/MS, ICP-OES, AAS, ICP/MS, UV–VIS Spektrofotometrie, GC/MS/MS, GC/HRMS, LC/TOF, LC/HRMS, GC/Q-TOF, GC/QQQ, LC/QQQ, LC/SQ, HPLC, FTIR Spektroskopie
Instrumentace
GC/MSD, LC/MS, LC/MS/MS, ICP-OES, AAS, ICP/MS, UV–VIS Spektrofotometrie, GC/MS/MS, GC/HRMS, LC/TOF, LC/HRMS, GC/Q-TOF, GC/QQQ, LC/QQQ, LC/SQ, HPLC, FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Otevřít dokument AccuTOF GC series Applications Notebook
AccuTOF GC series Applications Notebook
GC, GCxGC, GC/HRMS, SPME, Termální desorpce, Pyrolýza, GC/TOF
Instrumentace
GC, GCxGC, GC/HRMS, SPME, Termální desorpce, Pyrolýza, GC/TOF
Výrobce
Agilent Technologies, JEOL
Zaměření
Životní prostředí, Potraviny a zemědělství, Forenzní analýza a toxikologie, Průmysl a chemie, Materiálová analýza, Polovodiče, Ostatní
Otevřít dokument The use of Kendrick mass defect plots, a new feature in GC Image™ software for GC x GC/high resolution mass spectrometric data analysis: an application on the identification of halogenated contaminants in electronic waste
The use of Kendrick mass defect plots, a new feature in GC Image™ software for GC x GC/high resolution mass spectrometric data analysis: an application on the identification of halogenated contaminants in electronic waste
GCxGC, GC/MSD, GC/HRMS, GC/TOF, Software
Instrumentace
GCxGC, GC/MSD, GC/HRMS, GC/TOF, Software
Výrobce
JEOL, ZOEX/JSB
Zaměření
Materiálová analýza, Polovodiče
