Aplikace z oblasti Polovodiče se zaměřením na NIR Spektroskopie - strana 1

Otevřít dokument Optical Characterization of Materials Using Spectroscopy

Optical Characterization of Materials Using Spectroscopy

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Průmysl a chemie, Materiálová analýza, Polovodiče
Otevřít dokument Eastern Analytical Symposium & Exposition 2022 Abstract Book

Eastern Analytical Symposium & Exposition 2022 Abstract Book

HPLC, Spotřební materiál, LC kolony, NMR, Pyrolýza, GC/MSD, GCxGC, 2D-LC, LC/MS, FTIR Spektroskopie, GC/MS/MS, GC/QQQ, LC/MS/MS, LC/QQQ, GC, SFC, Iontová mobilita, MALDI, NIR Spektroskopie, Elektrochemie, LC/TOF, LC/HRMS
Instrumentace
HPLC, Spotřební materiál, LC kolony, NMR, Pyrolýza, GC/MSD, GCxGC, 2D-LC, LC/MS, FTIR Spektroskopie, GC/MS/MS, GC/QQQ, LC/MS/MS, LC/QQQ, GC, SFC, Iontová mobilita, MALDI, NIR Spektroskopie, Elektrochemie, LC/TOF, LC/HRMS
Výrobce
Zaměření
Forenzní analýza a toxikologie, Životní prostředí, Farmaceutická analýza, Polovodiče, Klinická analýza, Proteomika, Potraviny a zemědělství, Lipidomika, Materiálová analýza
Otevřít dokument Instruments for Analyzing / Evaluating Electronic Device

Instruments for Analyzing / Evaluating Electronic Device

GC/MSD, HeadSpace, Termální desorpce, Pyrolýza, GC/SQ, Iontová chromatografie, NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie, ICP/MS, ICP-OES, AAS, FTIR Spektroskopie, Mikroskopie, X-ray, TOC
Instrumentace
GC/MSD, HeadSpace, Termální desorpce, Pyrolýza, GC/SQ, Iontová chromatografie, NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie, ICP/MS, ICP-OES, AAS, FTIR Spektroskopie, Mikroskopie, X-ray, TOC
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza, Polovodiče
Otevřít dokument Quality Control of Laminates

Quality Control of Laminates

NIR Spektroskopie
Instrumentace
NIR Spektroskopie
Výrobce
Metrohm
Zaměření
Polovodiče
Otevřít dokument Quality control of semiconductor acid baths as per ASTM E1655 – Time- and cost-efficient with NIRS

Quality control of semiconductor acid baths as per ASTM E1655 – Time- and cost-efficient with NIRS

NIR Spektroskopie
Instrumentace
NIR Spektroskopie
Výrobce
Metrohm
Zaměření
Polovodiče
Otevřít dokument Coated Wafer Mapping Using UV-Vis Spectral Reflection and Transmission Measurements

Coated Wafer Mapping Using UV-Vis Spectral Reflection and Transmission Measurements

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza, Polovodiče
Otevřít dokument Measuring the optical properties of photovoltaic cells using the Agilent Cary 5000 UV-Vis-NIR spectrophotometer and the External DRA-2500

Measuring the optical properties of photovoltaic cells using the Agilent Cary 5000 UV-Vis-NIR spectrophotometer and the External DRA-2500

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza, Polovodiče