GCMS webináře se zaměřením na Elementární analýza - strana 1

ICP-MS for Hybrid Photoelectrode Characterization

ICP-MS for Hybrid Photoelectrode Characterization

Změřte množství katalyzátoru na hybridních fotoelektrodách. Zjistěte, jak přístroj Agilent 7850 ICP-MS podporuje výzkum solárních paliv.
ICP-MS for Hybrid Photoelectrode Characterization
Learn to Select and Apply the Proper Internal Standard in ICP-OES

Learn to Select and Apply the Proper Internal Standard in ICP-OES

Osvojte si vnitřní standardy v ICP-OES. Zjistěte, jak vybrat správný standard pro korekci matricových efektů a driftu.
Learn to Select and Apply the Proper Internal Standard in ICP-OES
ICP-OES Preventive Maintenance: What to Clean, How, and When

ICP-OES Preventive Maintenance: What to Clean, How, and When

Udržujte svůj ICP-OES v optimálním stavu. Zjistěte, jak a kdy čistit komponenty, předejít driftu a omezit výpadky.
ICP-OES Preventive Maintenance: What to Clean, How, and When
Analysis of High Purity Titanium Using an Agilent 9500 ICP-QQQ

Analysis of High Purity Titanium Using an Agilent 9500 ICP-QQQ

Stanovte stopové nečistoty ve vysoce čistém titanu. Zjistěte, jak Agilent 9500 ICP-QQQ překonává matricové interference.
Analysis of High Purity Titanium Using an Agilent 9500 ICP-QQQ
Improving Resolution of Single Nanoparticles with Agilent 9500 ICP-MS

Improving Resolution of Single Nanoparticles with Agilent 9500 ICP-MS

Objevte možnosti bleskurychlé detekce jednotlivých nanočástic. Připojte se a ovládněte 50µs dwell time na Agilent 9500 ICP-QQQ.
Improving Resolution of Single Nanoparticles with Agilent 9500 ICP-MS
Speciation of Chromium by IC-ICP-MS

Speciation of Chromium by IC-ICP-MS

Měříte toxický Cr(VI)? Zjistěte, jak spojení IC-ICP-MS zajišťuje přesné stanovení podle normy ISO 24384.
Speciation of Chromium by IC-ICP-MS
Trace Metal Determination by ICP-MS in Extractable and Leachable Analysis

Trace Metal Determination by ICP-MS in Extractable and Leachable Analysis

Kvantifikujte stopové kovy v E&L studiích. Zjistěte, jak ICP-MS umožňuje ultrastopovou analýzu ve shodě s ICH/USP.
Trace Metal Determination by ICP-MS in Extractable and Leachable Analysis
Removing Spectral Interferences on ICP-OES: Correction Technique

Removing Spectral Interferences on ICP-OES: Correction Technique

Odstraňte spektrální interference v ICP-OES. Porovnejte metody Fitted background, IEC a FACT pro přesnější výsledky.
Removing Spectral Interferences on ICP-OES: Correction Technique
Introducing the SPECTROSCOUT kt: Accurate Precious Metals Assays — Anywhere

Introducing the SPECTROSCOUT kt: Accurate Precious Metals Assays — Anywhere

Zjistěte, jak přístroj SPECTROSCOUT kt umožňuje rychlou ED-XRF analýzu zlata, stříbra a slitin pro účely testování čistoty, puncování, recyklace a kontroly kvality.
Introducing the SPECTROSCOUT kt: Accurate Precious Metals Assays — Anywhere
Elemental Evaluation of MXene Degradation and Application in Ion Separation

Elemental Evaluation of MXene Degradation and Application in Ion Separation

Zjistěte, jak přístroj Agilent 5900 ICP-OES vyhodnocuje degradaci materiálu MXene a sleduje uvolňování kovů za účelem pokročilé separace iontů.
Elemental Evaluation of MXene Degradation and Application in Ion Separation