DAD - Impurity/Profiling workflowsZÁZNAM | Proběhlo St, 18.8.2021Úvod k LC6000 - profilování pracovních toků a výpočet nečistoty píků pomocí LC s detektorem diodového pole (DAD).Přejít na webinářSCION Instruments: DAD-Impurity/Profiling workflows Overview of the LC6000 HPLC series Benefits of using Diode Array Detection vs Ultra-Violet Detector CompassCDS sample processing and reporting of Diode Array Data; UV Spectra and Peak Purity Profiling Presenter: Ashleigh Mellor (LC Product Manager at SCION Instruments) SCION Instruments