Cleaning Metal Oxides Using Argon Cluster Ions to Prevent Surface Modification

Aplikace | 2014 | Thermo Fisher ScientificInstrumentace
X-ray
Zaměření
Materiálová analýza, Průmysl a chemie
Výrobce
Thermo Fisher Scientific
PDF verze ke stažení a čtení
 

Podobná PDF

The evolution of XPS depth profiling
The evolution of XPS depth profiling
2025|Thermo Fisher Scientific|Ostatní
Instrumentation for surface analysis
Instrumentation for surface analysis
2021|Thermo Fisher Scientific|Brožury a specifikace
Advantages of coincident XPS-Raman in the analysis of mineral oxide species
XPS depth profiling of advanced solar cells with femtosecond laser ablation