Quantitative Depth Profile (QDP) Analysis of NIST 2135c - Ni/Cr Thin Film Depth Profile Standard

Aplikace | 2010 | LECOInstrumentace
GD/MP/ICP-AES, Elementární analýza
Zaměření
Materiálová analýza
Výrobce
LECO
PDF verze ke stažení a čtení
 

Podobná PDF

Quantitative Depth Profile (QDP) Analysis of Commercial Hard Disk on Aluminum Alloy Substrate
Quantitative Depth Profile (QDP) Analysis of Plated Samples
Quantitative Depth Profile (QDP) Analysis of Thin Oxide Layer on Polished Stainless Steel
Compositional Depth Profiling of Hard Disks with Glow Discharge Atomic Emission Spectrometry (GD-AES)