Analysis of silicon, phosphorus and sulfur in 20% methanol using the Agilent 8800 Triple Quadrupole ICP-MS

Aplikace | 2012 | Agilent TechnologiesInstrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Zaměření
Průmysl a chemie, Polovodiče
Výrobce
Agilent Technologies
PDF verze ke stažení a čtení
 

Podobná PDF

Trace level analysis of sulfur, phosphorus, silicon and chlorine in NMP using the Agilent 8800 Triple Quadrupole ICP-MS
Measuring Inorganic Impurities in Semiconductor Manufacturing
Handbook of ICP-QQQ Applications using the Agilent 8800 and 8900
Agilent ICP-MS Journal (March 2012 – Issue 49)
Agilent ICP-MS Journal (March 2012 – Issue 49)
2012|Agilent Technologies|Ostatní