Enhanced Helium Collision Mode with Agilent ORS4 Cell

Technické články | 2020 | Agilent TechnologiesInstrumentace
ICP/MS
Zaměření
Výrobce
Agilent Technologies

Význam tématu


Efektivní odstranění polyatomových interferencí je klíčové pro přesnou kvantifikaci stopových prvků v ICP-MS, zejména v laboratorních a průmyslových aplikacích s neznámým či proměnlivým složením vzorků. Kinetická energetická diskriminace v heliovém režimu (He mode) se díky jednoduchosti a široké použitelnosti stala preferovanou metodou na jednochromátových ICP-MS přístrojích.

Cíle a přehled studie / článku


Cílem předložené technologie je představit vylepšený heliový režim na Agilent ICP-MS systémech vybavených buňkou ORS4. Studie demonstruje, že díky optimalizaci konstrukce buňky lze dosáhnout výrazně lepšího rozlišení mezi analytem a interferencemi bez použití reaktivních plynů, což umožňuje sledování prvků, jako je Se, Si, P či S, na úrovních jednotek až desítek ppt/ppb.

Použitá metodika a instrumentace


Metody:
  • Kinetická energetická diskriminace (KED) v heliovém režimu.
  • Srovnání konvenčního He režimu se zvýrazněným režimem v buňce ORS4.
Instrumentace:
  • ICP-MS Agilent vybavený Octopole Reaction System (ORS4) s dlouhým vysokofrekvenčním oktopólem.
  • Možnost vysokého průtoku buňky a širšího bias napětí pro zvýšení kolizní energie.

Hlavní výsledky a diskuse


Srovnání energie iontů ukázalo, že vylepšený He režim výrazně zmenšuje překryv energie mezi ionty Selenu (analyt, 78Se) a Ar2 (interferenční ionty), což vede k účinnější diskriminaci. Optimalizace průtoku He pro 78Se vedla k detekčnímu limitu (DL) 4,52 ppt a ekvivalentní koncentraci pozadí (BEC) 2,66 ppt bez reaktivního plynu.
Pro další prvky byly v ORS4 He režimu stanoveny následující hodnoty:
  • Si (28): DL 0,161 ppb, BEC 9,92 ppb
  • P (31): DL 0,17 ppb, BEC 0,29 ppb
  • S (34): DL 8,94 ppb, BEC 187 ppb
Tyto limity jsou výrazně lepší než u standardního heliového režimu a v některých případech konkurují výsledkům s reaktivním plynem.

Přínosy a praktické využití metody


Metoda nabízí:
  • Jednoduchou operaci s jediným pracovním plynem (He).
  • Možnost multi-prvkové analýzy na jednochromátovém ICP-MS bez přídavných filtrů.
  • Vyšší citlivost a nižší pozadí pro prvky obtížně měřitelné konvenčním He režimem.
  • Využití potvrzovacích izotopů bez nutnosti měnit režim.

Budoucí trendy a možnosti využití


Očekává se další rozvoj optimalizace buňky a průtokových parametrů, což umožní rozšířit aplikaci i na další prvky a matice. Kombinace vylepšeného He režimu s hyphenovanými technikami či ICP-MS/MS přinese ještě vyšší selektivitu. Potenciál nachází uplatnění v environmentální, potravinářské, klinické a průmyslové analýze.

Závěr


Vylepšený heliový režim s buňkou ORS4 na Agilent ICP-MS přístrojích přináší významné zlepšení odstranění polyatomových interferencí a umožňuje měřit prvky Se, Si, P a S na úrovních ppt–ppb bez použití reaktivních plynů, což zjednodušuje laboratorní workflow a rozšiřuje možnosti rutinních analýz.

Reference


  • Agilent Technologies. Enhanced Helium Collision Mode with Agilent ORS4 Cell. Application note DE44140.8951157407, November 2020.

Obsah byl automaticky vytvořen z originálního PDF dokumentu pomocí AI a může obsahovat nepřesnosti.

PDF verze ke stažení a čtení
 

Podobná PDF

ENHANCED HELIUM MODE CELL PERFORMANCE FOR IMPROVED INTERFERENCE REMOVAL IN ICP-MS
WCPS: Enhancing Helium Mode Performance to Provide Improved Detection Limits for Difficult Elements Including S, P, Fe, and Se
Resolving REE2+ Overlaps on Arsenic and Selenium With Hydrogen Cell Gas
Technical Overview and Performance Capability of the Agilent 7900s ICP-MS for Semiconductor Applications