Aplikace - strana 3

Otevřít dokument A Faster, More Accurate Way of Characterizing Cube Beamsplitters
GCMSLCMSICPMS

A Faster, More Accurate Way of Characterizing Cube Beamsplitters

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Optical Characterization of Thin Films
GCMSLCMSICPMS

Optical Characterization of Thin Films

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Gaining Deeper Insights into Thin Film Response
GCMSLCMSICPMS

Gaining Deeper Insights into Thin Film Response

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Monitoring ferrocyanide oxidation using hyphenated EC-Raman
GCMSLCMSICPMS

Monitoring ferrocyanide oxidation using hyphenated EC-Raman

RAMAN Spektrometrie, Elektrochemie
Instrumentace
RAMAN Spektrometrie, Elektrochemie
Výrobce
Metrohm
Zaměření
Průmysl a chemie
Otevřít dokument LiDAR Evaluation System: Measurement of Transmittance/Reflectance of Optical Materials
GCMSLCMSICPMS

LiDAR Evaluation System: Measurement of Transmittance/Reflectance of Optical Materials

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument LiDAR Evaluation System: Measurement of Transmittance of Bandpass Filters
GCMSLCMSICPMS

LiDAR Evaluation System: Measurement of Transmittance of Bandpass Filters

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Otevřít dokument Mnova DB - MyData
GCMSICPMSLCMS

Mnova DB - MyData

Software
Instrumentace
Software
Výrobce
SciY/Mestrelab Research
Zaměření
Ostatní
Otevřít dokument Coated Wafer Mapping Using UV-Vis Spectral Reflection and Transmission Measurements
GCMSLCMSICPMS

Coated Wafer Mapping Using UV-Vis Spectral Reflection and Transmission Measurements

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza, Polovodiče
Otevřít dokument Investigation of Dichroism by Spectrophotometric Methods
GCMSLCMSICPMS

Investigation of Dichroism by Spectrophotometric Methods

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Otevřít dokument Solutions for Pharmaceutical Analysis - Application Notebook
GCMSLCMSICPMS

Solutions for Pharmaceutical Analysis - Application Notebook

GC, GC/MSD, GC/MS/MS, HeadSpace, GC/SQ, GC/QQQ, Software, MS Imaging, HPLC, LC/MS, LC/MS/MS, LC/QQQ, GD/MP/ICP-AES
Instrumentace
GC, GC/MSD, GC/MS/MS, HeadSpace, GC/SQ, GC/QQQ, Software, MS Imaging, HPLC, LC/MS, LC/MS/MS, LC/QQQ, GD/MP/ICP-AES
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Farmaceutická analýza